LTPD（Lot Tolerance Percent Defective：ロット許容不良率）とは、抜き取り検査で、不良品の割合がこの値ほど高いロット（製品の群）は、高い確率で不合格にできる、という不良率の水準のことです。ふつうは、不良率がLTPDのロットが誤って合格してしまう確率（消費者の危険）を10%とし、90%の信頼度で「不良率はLTPD以下である」と言える、という意味で使います。
半導体の信頼性試験では、LTPDを使って試験に必要なサンプルの数を決めます。たとえば、77個を試験して不良が0個なら、90%の信頼度で不良率は約3%以下（LTPD 3%）と言えます。これは、不良率3%の母集団から77個を選んで1個も不良が出ない確率が約10%であることから求められます。JEDECの規格（JESD47）では、高温動作寿命試験（HTOL）などで、3ロットから77個ずつを試験し、不良0個で合格とする条件がよく使われます。
LTPDは、少ないサンプルで判定できる一方、言えるのは「不良率がこの値以下である可能性が高い」ということだけで、実際の不良率はもっと低いことがほとんどです。量産品の不良を数ppmの水準で保証するには、LTPDの試験だけでは足りず、出荷前のスクリーニングや、市場での故障率（FIT）の管理、工程の管理と組み合わせて品質を保証します。
