最後更新:2026年10月23日階高・表面粗糙度量測設備

BIM300的特點與規格

Lasertec・階高・表面粗糙度量測設備

以共焦光學系統量測 Si・SiC・玻璃面板等多種樣品 3D 形狀的全自動量測設備。

目錄5 項
  1. 產品概要
  2. 主要規格
  3. 主要特點
  4. 製造商與在台據點
  5. 資料來源

產品概要

BIM 系列是 Lasertec 的晶圓全自動量測設備,為適用各種尺寸樣品的高精度 3D 形狀量測機。

以共焦光學系統高精度量測寬度・高度・深度。從 Si 晶圓到包含 SiC 在內的化合物半導體與玻璃面板,也能量測透明材料表層的形狀。由於搭載從可見光到近紅外光(NIR)的光源,除了晶圓表面形狀之外,也能穿透 Si 層量測下層圖案的形狀。

適用 2~12 吋晶圓與 500~600mm 的大型面板,可進行支援 SECS/GEM 的全自動量測。用於面板級封裝玻璃基板上 RDL 的寬度・高度量測,以及 Si 晶圓內部圖案與缺陷的形狀量測。

主要規格

方式共焦光學系統(可見光~NIR)
樣品2~12 吋晶圓・500~600mm 面板
功能支援 SECS/GEM 的全自動量測

規格依廠商公開資料整理,實際規格與選配請以廠商資料為準。

主要特點

共焦光學系統
以可見光~NIR 穿透 Si 量測
適用晶圓~大型面板

主要用途

  • 化合物半導體的 3D 量測
  • 面板上的 RDL 量測

製造商與在台據點

在台據點
  • Lasertec Taiwan(新竹縣竹北市):2010 年成立,負責銷售與技術支援

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資料來源

  1. Lasertec 官方產品頁面:BIM