最後更新:2026年10月23日光罩檢測設備

ACTIS A200HiT 系列的特點與規格

Lasertec・光罩檢測設備

檢測速度為 ACTIS A150 的 3 倍,面向晶圓廠的高產能光化 EUV 光罩檢測設備。

目錄5 項
  1. 產品概要
  2. 主要規格
  3. 主要特點
  4. 製造商與在台據點
  5. 資料來源

產品概要

ACTIS A200HiT 系列是 Lasertec 的光化(actinic)EUV 圖案光罩缺陷檢測設備,是 2025年10月發表、面向晶圓廠的 ACTIS 高產能機型。

能高速、高靈敏度捕捉 EUV 光罩上的可轉印缺陷,檢測速度達到 ACTIS A150 的 3 倍。

可檢出 EUV 光罩在晶圓廠使用期間產生的可轉印缺陷。用於晶圓廠對 EUV 光罩的進料檢測與定期品質確認檢測。

主要規格

方式光化檢測(EUV 光)
檢測速度ACTIS A150 的 3 倍
發表2025年10月

規格依廠商公開資料整理,實際規格與選配請以廠商資料為準。

主要特點

檢測速度為 A150 的 3 倍
面向晶圓廠的高產能機型

主要用途

  • 晶圓廠的 EUV 光罩進料・定期檢測

製造商與在台據點

在台據點
  • Lasertec Taiwan(新竹縣竹北市):2010 年成立,負責銷售與技術支援

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資料來源

  1. Lasertec 官方產品頁面:ACTIS A200HiT