ACTIS A200HiT 系列是 Lasertec 的光化(actinic)EUV 圖案光罩缺陷檢測設備,是 2025年10月發表、面向晶圓廠的 ACTIS 高產能機型。
能高速、高靈敏度捕捉 EUV 光罩上的可轉印缺陷,檢測速度達到 ACTIS A150 的 3 倍。
可檢出 EUV 光罩在晶圓廠使用期間產生的可轉印缺陷。用於晶圓廠對 EUV 光罩的進料檢測與定期品質確認檢測。
檢測速度為 ACTIS A150 的 3 倍,面向晶圓廠的高產能光化 EUV 光罩檢測設備。
ACTIS A200HiT 系列是 Lasertec 的光化(actinic)EUV 圖案光罩缺陷檢測設備,是 2025年10月發表、面向晶圓廠的 ACTIS 高產能機型。
能高速、高靈敏度捕捉 EUV 光罩上的可轉印缺陷,檢測速度達到 ACTIS A150 的 3 倍。
可檢出 EUV 光罩在晶圓廠使用期間產生的可轉印缺陷。用於晶圓廠對 EUV 光罩的進料檢測與定期品質確認檢測。
| 方式 | 光化檢測(EUV 光) |
|---|---|
| 檢測速度 | ACTIS A150 的 3 倍 |
| 發表 | 2025年10月 |
規格依廠商公開資料整理,實際規格與選配請以廠商資料為準。