最後更新:2026年10月23日缺陷檢測設備

CIRIUS 系列的特點與規格

Lasertec・缺陷檢測設備

檢測・複檢 3D NAND 等高堆疊元件,以及晶圓接合後內部缺陷的設備。

目錄5 項
  1. 產品概要
  2. 主要規格
  3. 主要特點
  4. 製造商與在台據點
  5. 資料來源

產品概要

CIRIUS 系列是 Lasertec 的高靈敏度內部缺陷檢測・複檢設備。於2022年12月發表,支援高堆疊化製程。

以獨家光學系統高靈敏度檢測晶圓內部的缺陷,並以複檢光學系統依深度分類內部缺陷。產出也很高。

用於 3D NAND 等高堆疊元件的內部缺陷檢測,以及晶圓接合後的內部缺陷檢測。

主要規格

方式以獨家光學系統進行內部缺陷檢測+複檢光學系統
功能內部缺陷的深度分類
對象3D NAND 等高堆疊元件・接合晶圓

規格依廠商公開資料整理,實際規格與選配請以廠商資料為準。

主要特點

高靈敏度內部缺陷檢測
依深度分類缺陷
高產出

主要用途

  • 3D NAND 的內部缺陷檢測
  • 接合晶圓的檢測

製造商與在台據點

在台據點
  • Lasertec Taiwan(新竹縣竹北市):2010 年成立,負責銷售與技術支援

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資料來源

  1. Lasertec 官方產品頁面:CIRIUS