EZ 系列是 Lasertec 的晶圓邊緣形狀量測設備。用於晶圓外圍部良率的定量管理,以及製程異常的分析。
以共焦光學系統的高對比影像檢測缺陷,並以獨家演算法進行包含凹凸判定的自動缺陷分類。藉由高解析度 3D 量測功能,也能輕鬆辨識或推測缺陷種類。
用於透過線上 QC 進行晶圓外圍部的定量管理與製程異常的早期警報、外圍部發生不良晶片時以 SPC 進行追溯分析,以及掌握外圍部缺陷造成良率惡化的原因。
以共焦光學系統檢測晶圓外圍部缺陷,並包含凹凸判定進行自動分類的設備。
EZ 系列是 Lasertec 的晶圓邊緣形狀量測設備。用於晶圓外圍部良率的定量管理,以及製程異常的分析。
以共焦光學系統的高對比影像檢測缺陷,並以獨家演算法進行包含凹凸判定的自動缺陷分類。藉由高解析度 3D 量測功能,也能輕鬆辨識或推測缺陷種類。
用於透過線上 QC 進行晶圓外圍部的定量管理與製程異常的早期警報、外圍部發生不良晶片時以 SPC 進行追溯分析,以及掌握外圍部缺陷造成良率惡化的原因。
| 方式 | 共焦光學系統 |
|---|---|
| 功能 | 包含凹凸判定的自動缺陷分類・高解析度 3D 量測 |
| 主要用途 | 晶圓外圍部的良率管理 |
規格依廠商公開資料整理,實際規格與選配請以廠商資料為準。