Firefly G5 是 Onto Innovation 針對先進 IC 載板與面板級封裝的自動檢測・3D 量測設備。面向 HPC、AI、雲端、機器學習等嚴苛用途,具備高解析度與高生產力。
為 Firefly 系列的最新平台,具備多種影像擷取模式,包括可找出金屬上殘留物與有機層上金屬缺陷的專利 Clearfind 技術。
提高產能與靈敏度,並以新型高速 IR 影像擷取鎖定埋入式缺陷。將高靈敏度檢測、2D/3D 量測與機台上的彩色影像擷取整合於 1 個平台。
適用於先進 IC 載板與面板級封裝的自動檢測・3D 量測設備。以 Clearfind 技術檢出殘留物・金屬缺陷。
Firefly G5 是 Onto Innovation 針對先進 IC 載板與面板級封裝的自動檢測・3D 量測設備。面向 HPC、AI、雲端、機器學習等嚴苛用途,具備高解析度與高生產力。
為 Firefly 系列的最新平台,具備多種影像擷取模式,包括可找出金屬上殘留物與有機層上金屬缺陷的專利 Clearfind 技術。
提高產能與靈敏度,並以新型高速 IR 影像擷取鎖定埋入式缺陷。將高靈敏度檢測、2D/3D 量測與機台上的彩色影像擷取整合於 1 個平台。
| 對象 | 先進 IC 載板・面板級封裝 |
|---|---|
| 方式 | 多種影像擷取模式(Clearfind)・高速 IR 影像擷取 |
| 功能 | 2D/3D 量測・彩色影像擷取 |
規格依廠商公開資料整理,實際規格與選配請以廠商資料為準。
Onto Innovation(總部:美國)