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CONFERENCE

顕微鏡学会学術講演会(日本顕微鏡学会 学術講演会)

日本顕微鏡学会が主催する、電子顕微鏡と顕微鏡法を扱う会議。

01開催概要


正式名称
Japanese Society of Microscopy Annual Meeting
主催
日本顕微鏡学会
次回の会期
未発表(例年5月頃)
開催地
日本
例年の開催
5月頃・日本
分野
材料・物性
格付け
国内の学会日本の日本顕微鏡学会が主催する会議のため、国内の学会としています。格付けの決め方
公式サイト
microscopy.or.jp(2026/10/24 確認)

02顕微鏡学会学術講演会はどんな学会か


顕微鏡学会学術講演会は、日本顕微鏡学会が主催する、電子顕微鏡と顕微鏡法を扱う会議です。毎年春〜初夏に開催。例年5月ごろに開かれます。

透過型・走査型電子顕微鏡の技術と、材料・デバイスの観察・解析の研究が発表されます。

03注目の技術


顕微鏡学会学術講演会でよく発表される技術です。用語集で仕組みを確認できます。

  • 透過型電子顕微鏡(TEM)

    TEM(Transmission Electron Microscopy:透過型電子顕微鏡)は、薄く加工した試料に電子線を透過させ、その透過・回折像から原子レベルの分解能で内部構造を観察する分析装置です。

  • SEM(走査型電子顕微鏡)

    SEM(Scanning Electron Microscope/走査電子顕微鏡)は、電子ビームを試料表面に走査照射し、放出される二次電子・反射電子を検出することで試料表面の形状・組成を高分解能で観察・分析する電子顕微鏡です。

  • 原子間力顕微鏡(AFM)

    AFM(Atomic Force Microscopy:原子間力顕微鏡)は、先端を尖らせた微小な探針(プローブ)で試料表面をなぞり、探針と表面の間に働く原子間力を検出して、ナノメートル分解能の三次元的な凹凸(表面形状)を測定する装置です。

04同じ分野の学会

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※ 会期・締切は2026/10/24に公式サイトで確認した情報です。変更されることがあるため、投稿・参加の前には公式サイトで最新の情報を確認してください。