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CONFERENCE

放射光学会年会 2027(日本放射光学会 年会・放射光科学合同シンポジウム)

日本放射光学会が主催する、放射光科学を扱う会議。

01開催概要


正式名称
日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム / Japanese Society for Synchrotron Radiation Research Annual Meeting and Joint Symposium in Synchrotron Radiation Science
主催
日本放射光学会
次回の会期
2027年1月12日〜1月14日(木)(開幕まであと76日)
開催地
佐賀・SAGAアリーナ
例年の開催
1月頃・日本
分野
材料・物性
格付け
国内の学会日本の日本放射光学会が主催する会議のため、国内の学会としています。格付けの決め方
公式サイト
pub.confit.atlas.jp(2026/10/24 確認)
会期をカレンダーに追加(.ics)

02放射光学会年会はどんな学会か


放射光学会年会は、日本放射光学会が主催する、放射光科学を扱う会議です。2027年は1月12日から1月14日まで、佐賀で開かれます。会場はSAGAアリーナです。

放射光(強いX線)を使った材料・デバイスの分析と、放射光施設の技術の研究が発表されます。

03注目の技術


放射光学会年会でよく発表される技術です。用語集で仕組みを確認できます。

  • XPS(X線光電子分光法)

    XPS(X-ray Photoelectron Spectroscopy:X線光電子分光法)とは、試料の表面にX線を当て、飛び出してくる電子(光電子)のエネルギーを測ることで、表面にどの元素があり、それがどのような化学状態(どの原子と結合しているか)にあるかを調べる分析方法です。

  • 原子間力顕微鏡(AFM)

    AFM(Atomic Force Microscopy:原子間力顕微鏡)は、先端を尖らせた微小な探針(プローブ)で試料表面をなぞり、探針と表面の間に働く原子間力を検出して、ナノメートル分解能の三次元的な凹凸(表面形状)を測定する装置です。

  • SIMS(二次イオン質量分析)

    SIMS(Secondary Ion Mass Spectrometry:二次イオン質量分析)は、一次イオンビームをウェハ表面に照射してスパッタし、叩き出された二次イオンを質量分析することで、元素組成や深さ方向の不純物濃度プロファイルを測定する分析手法です。

  • SEM(走査型電子顕微鏡)

    SEM(Scanning Electron Microscope/走査電子顕微鏡)は、電子ビームを試料表面に走査照射し、放出される二次電子・反射電子を検出することで試料表面の形状・組成を高分解能で観察・分析する電子顕微鏡です。

04同じ分野の学会

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※ 会期・締切は2026/10/24に公式サイトで確認した情報です。変更されることがあるため、投稿・参加の前には公式サイトで最新の情報を確認してください。