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CONFERENCE

ACSIN(原子制御表面・界面・ナノ構造国際会議)

ACSIN 国際運営委員会が主催する、原子レベルで制御した表面・界面を扱う国際会議。

01開催概要


正式名称
International Conference on Atomically Controlled Surfaces, Interfaces and Nanostructures
主催
ACSIN 国際運営委員会
次回の会期
未発表(例年10月頃)
開催地
各国持ち回り
例年の開催
10月頃・各国持ち回り
分野
材料・物性
格付け
専門の国際会議原子レベルで制御した表面・界面という特定のテーマに絞って開かれている国際会議のため、専門の国際会議としています。格付けの決め方
公式サイト
www.icspm.net(2026/10/24 確認)

02ACSINはどんな学会か


ACSINは、ACSIN 国際運営委員会が主催する、原子レベルで制御した表面・界面を扱う国際会議です。第16回は2026年10月 姫路(アクリエひめじ)。例年10月ごろに開かれます。

走査型プローブ顕微鏡による表面の観察、原子レベルの表面・界面の制御、ナノ構造の研究が発表されます。

03注目の技術


ACSINでよく発表される技術です。用語集で仕組みを確認できます。

  • XPS(X線光電子分光法)

    XPS(X-ray Photoelectron Spectroscopy:X線光電子分光法)とは、試料の表面にX線を当て、飛び出してくる電子(光電子)のエネルギーを測ることで、表面にどの元素があり、それがどのような化学状態(どの原子と結合しているか)にあるかを調べる分析方法です。

  • 原子間力顕微鏡(AFM)

    AFM(Atomic Force Microscopy:原子間力顕微鏡)は、先端を尖らせた微小な探針(プローブ)で試料表面をなぞり、探針と表面の間に働く原子間力を検出して、ナノメートル分解能の三次元的な凹凸(表面形状)を測定する装置です。

  • SIMS(二次イオン質量分析)

    SIMS(Secondary Ion Mass Spectrometry:二次イオン質量分析)は、一次イオンビームをウェハ表面に照射してスパッタし、叩き出された二次イオンを質量分析することで、元素組成や深さ方向の不純物濃度プロファイルを測定する分析手法です。

  • SEM(走査型電子顕微鏡)

    SEM(Scanning Electron Microscope/走査電子顕微鏡)は、電子ビームを試料表面に走査照射し、放出される二次電子・反射電子を検出することで試料表面の形状・組成を高分解能で観察・分析する電子顕微鏡です。

04同じ分野の学会

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※ 会期・締切は2026/10/24に公式サイトで確認した情報です。変更されることがあるため、投稿・参加の前には公式サイトで最新の情報を確認してください。