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CONFERENCE

PMJ 2027(フォトマスク・ジャパン)

Photomask Japan・SPIEが主催する、フォトマスクと次世代露光用マスクを扱う国際会議。

01開催概要


正式名称
Photomask Japan
主催
Photomask Japan・SPIE
次回の会期
2027年4月7日〜4月9日(金)(開幕まであと161日)
開催地
横浜・パシフィコ横浜 アネックスホール
例年の開催
4月頃・日本(横浜)
分野
リソグラフィ・配線・量産
格付け
主要国際会議Photomask Japan・SPIEが主催し、フォトマスクと次世代露光用マスクの分野で継続して開かれている国際会議のため、主要国際会議としています。格付けの決め方
公式サイト
smartconf.jp(2026/10/24 確認)
会期をカレンダーに追加(.ics)

02投稿の日程


募集要項で発表されている締切と通知日です。

日付内容状況
2026年11月30日アブストラクト締切あと33日

03PMJはどんな学会か


PMJは、Photomask Japan・SPIEが主催する、フォトマスクと次世代露光用マスクを扱う国際会議です。2027年は4月7日から4月9日まで、横浜で開かれます。会場はパシフィコ横浜 アネックスホールです。

フォトマスクの描画・検査・修正、EUVマスク、ペリクル、マスク用の材料の研究が発表される、日本で毎年開かれる国際会議です。

04注目の技術


PMJでよく発表される技術です。用語集で仕組みを確認できます。

  • フォトマスク

    フォトマスク(Photomask)は、半導体製造のリソグラフィ工程において、ICの回路パターンを光学的にウェハ上のフォトレジストに転写するための「版下」となる基板です。

  • ペリクル

    ペリクル(Pellicle)とは、フォトマスク(レチクル)の表面をパーティクル(微細粒子)から保護するために貼付する薄い透明膜(メンブレン)とその支持フレームから構成される保護部品です。

  • 電子ビーム描画

    電子ビーム描画装置(E-Beam Mask Writer)は、フォトマスク製造において、電子ビームをマスクブランク上に精密に照射・走査することでパターンを直接描画する装置です。

  • EUV(極紫外線)

    EUV(Extreme Ultraviolet:極端紫外線)とは、波長13.5nmの極短波長光を指し、半導体リソグラフィ(露光)分野において7nm以下の超微細回路パターンを形成するための光源技術として不可欠な存在となっています。

05同じ分野の学会

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※ 会期・締切は2026/10/24に公式サイトで確認した情報です。変更されることがあるため、投稿・参加の前には公式サイトで最新の情報を確認してください。