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CONFERENCE

SPIE Materials 2027(SPIE パターニング材料とプロセス)

SPIEが主催する、レジストなどのパターニング材料を扱う国際会議。

01開催概要


正式名称
SPIE Advances in Patterning Materials and Processes
主催
SPIE
次回の会期
2027年2月21日〜2月25日(木)(開幕まであと116日)
開催地
サンノゼ(米国)
例年の開催
2月頃・米国(サンノゼ)
分野
リソグラフィ・配線・量産
格付け
専門の国際会議レジストなどのパターニング材料という特定のテーマに絞って開かれている国際会議のため、専門の国際会議としています。格付けの決め方
公式サイト
spie.org(2026/10/24 確認)
会期をカレンダーに追加(.ics)

02SPIE Materialsはどんな学会か


SPIE Materialsは、SPIEが主催する、レジストなどのパターニング材料を扱う国際会議です。2027年は2月21日から2月25日まで、サンノゼ(米国)で開かれます。

EUVレジスト、金属酸化物レジスト、下層膜など露光に使う材料の研究が発表されます。SPIE Advanced Lithography + Patterning を構成する会議の1つです。

03注目の技術


SPIE Materialsでよく発表される技術です。用語集で仕組みを確認できます。

  • フォトレジスト

    フォトレジストは、半導体製造のフォトリソグラフィ工程で使用される感光性樹脂材料です。

  • EUVレジスト

    EUVレジスト(EUV Resist)は、EUV(極端紫外線)露光装置を使った半導体リソグラフィ工程において、波長13.5nmのEUV光に感応して化学的変化を起こすフォトレジスト材料です。

  • メタルオキサイドレジスト(MOR)

    メタルオキサイドレジスト(MOR:Metal Oxide Resist)とは、スズなどの金属の酸化物を主成分とする、EUV露光向けの新しいタイプのフォトレジストです。

  • 化学増幅型レジスト(CAR)

    化学増幅型レジスト(CAR:Chemically Amplified Resist)とは、光が当たると酸を出す物質(光酸発生剤:PAG)を含み、その酸が触媒となって、周りの樹脂の化学反応を次々に引き起こすタイプのフォトレジストです。

04同じ分野の学会

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※ 会期・締切は2026/10/24に公式サイトで確認した情報です。変更されることがあるため、投稿・参加の前には公式サイトで最新の情報を確認してください。