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CONFERENCE

CSTIC 2027(集積回路科学技術会議)

SEMI・IEEEが主催する、集積回路の製造技術を扱う国際会議。

01開催概要


正式名称
Conference of Science & Technology for Integrated Circuits
主催
SEMI・IEEE
次回の会期
2027年3月21日〜3月23日(火)(開幕まであと144日)
開催地
上海(中国)
例年の開催
3月頃・中国(上海)
分野
デバイス・プロセス/リソグラフィ・配線・量産
格付け
主要国際会議SEMI・IEEEが主催し、集積回路の製造技術の分野で継続して開かれている国際会議のため、主要国際会議としています。格付けの決め方
公式サイト
www.semiconchina.org(2026/10/24 確認)
会期をカレンダーに追加(.ics)

02投稿の日程


募集要項で発表されている締切と通知日です。

日付内容状況
2026年10月15日アブストラクト締切終了
2026年11月1日採否通知あと4日
2026年12月15日最終原稿締切あと48日

03CSTICはどんな学会か


CSTICは、SEMI・IEEEが主催する、集積回路の製造技術を扱う国際会議です。2027年は3月21日から3月23日まで、上海(中国)で開かれます。

露光・エッチング・成膜・CMP・計測などの製造プロセスと、デバイス・パッケージの技術が発表されます。上海で SEMICON China と同時に開かれます。

04注目の技術


CSTICでよく発表される技術です。用語集で仕組みを確認できます。

  • EUV(極紫外線)

    EUV(Extreme Ultraviolet:極端紫外線)とは、波長13.5nmの極短波長光を指し、半導体リソグラフィ(露光)分野において7nm以下の超微細回路パターンを形成するための光源技術として不可欠な存在となっています。

  • プラズマエッチング

    プラズマエッチング(Plasma Etching)は、真空チャンバー内でプラズマを生成し、そのプラズマ中の活性種(ラジカル・イオン)によってウェハ表面の材料を除去するエッチング手法の総称です。

  • ALD

    ALD(Atomic Layer Deposition/原子層堆積)は、自己制限的な表面反応を利用して薄膜を少しずつ積み上げる成膜技術です。

  • CMP

    CMP(Chemical Mechanical Polishing/化学機械研磨)は、研磨剤(スラリー)と研磨パッドを用いて、ウェハ表面を化学的作用と機械的作用の組み合わせでナノメートルレベルまで平坦化するプロセスです。

  • 歩留まり(イールド)

    歩留まり(Yield)は、半導体の製造プロセスにおいて、ウェハ1枚当たりの全ダイ(チップ)数に対する良品ダイ数の割合(百分率)を表す指標です。

05同じ分野の学会

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※ 会期・締切は2026/10/24に公式サイトで確認した情報です。変更されることがあるため、投稿・参加の前には公式サイトで最新の情報を確認してください。