システムレベルテスト（SLT）装置メーカー2社
システムレベルテスト（SLT）装置は、最終テストを終えたプロセッサなどのデバイスを、実際の製品に近いボードに載せてOSやアプリケーションを動かし、正しく動作するかを確かめる装置です。ATEによる構造テストや機能テストでは網羅しきれない、実使用時の動作条件でしか現れない不良を見つけます。1個あたりの試験時間が長いため、多数のデバイスを並列に非同期で試験するスロット構成と、発熱の大きいデバイスの温度制御が装置の要点です。
主要特徴
よくある質問
SLTとATEによる最終テストの違いは何ですか？▾
なぜSLTが増えているのですか？▾
スペック比較
複数の機種が掲載している項目を並べています。
システムレベルテスト：3機種の比較
| 項目 | アドバンテスト7038（システムレベルテスト） | Teradyne（テラダイン）Titan（システムレベルテスト） | Teradyne（テラダイン）Titan HP（システムレベルテスト） |
|---|---|---|---|
| 方式 | — | 非同期スロットのシステムレベルテスト | システムレベルテスト（ミッションモード試験） |
| 対象 | — | モバイル向けアプリケーションプロセッサ | AI・クラウドインフラ向けデバイス |
1機種だけが掲載している項目（5件）
| 同時測定 | 最大 720 個 | — | — |
|---|---|---|---|
| スループット | 5,000 UPH | — | — |
| 機能 | PoP 両面コンタクト・温度試験・SCAN／LBIST／MBIST | — | — |
| 効果 | — | バッチ方式比 30% のスループット向上 | — |
| 温度制御 | — | — | アクティブサーマルコントロール（ATC） |
※ スペックは各メーカーの公開情報に基づく参考値です。メーカーが公表していない項目は「—」としています。正確な仕様はメーカーへお問い合わせください。
代表製品・スペック
| 同時測定 | 最大 720 個 |
| スループット | 5,000 UPH |
| 機能 | PoP 両面コンタクト・温度試験・SCAN／LBIST／MBIST |
Titan（システムレベルテスト）
モバイル向けアプリケーションプロセッサのシステムレベルテスト（SLT）プラットフォーム。非同期スロット構成で従来のバッチ方式より 30% 高い処理量。
| 方式 | 非同期スロットのシステムレベルテスト |
| 効果 | バッチ方式比 30% のスループット向上 |
| 対象 | モバイル向けアプリケーションプロセッサ |
Titan HP（システムレベルテスト）
AI・クラウド向けデバイスのシステムレベルテスト（SLT）プラットフォーム。アクティブサーマルコントロールで大電力デバイスに対応する。
| 方式 | システムレベルテスト（ミッションモード試験） |
| 温度制御 | アクティブサーマルコントロール（ATC） |
| 対象 | AI・クラウドインフラ向けデバイス |
※ スペックは公開情報に基づく参考値です。正確な仕様はメーカーへお問い合わせください。
メーカー
2社の主要メーカー
半導体テスト装置（ATE）市場で世界シェア50%超のリーダー。SoC、メモリ、パワー半導体の包括的テストソリューションを提供。
- •ATE市場で世界シェア50%以上のトップポジション
- •SoC、メモリ、パワー半導体の包括的テストソリューション
ATE（自動テスト装置）の世界大手。SoC・メモリ・車載・産業向けに幅広いテストプラットフォームを展開し、アドバンテストと市場を二分。
- •ATE市場でアドバンテストと並ぶ世界2強の一角
- •SoC・メモリ・車載向けの包括的テストラインナップ
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