最後更新:2026年10月23日SiC 功率半導體製造設備

Mirra Durum CMP的特點與規格

應用材料(Applied Materials)・SiC 功率半導體製造設備

將研磨・去除量量測・清洗・乾燥整合於1台的 SiC 晶圓用 CMP 設備。

目錄5 項
  1. 產品概要
  2. 主要規格
  3. 主要特點
  4. 製造商與在台據點
  5. 資料來源

產品概要

Mirra Durum CMP 是加入應用材料 150mm/200mm 用 CMP 設備 Mirra 系列、針對硬質基板的機種。以碳化矽(SiC)等硬質基板的研磨為對象。

是具量產實績的全自動乾進/乾出(dry-in/dry-out)系統,整合清洗・乾燥、去除量量測與晶圓 ID 讀取,在量產中取得優異的表面品質。針對更強的研磨液與藥液,將專用硬體最佳化。

透過以配方控制的晶圓翻面,可自動研磨 SiC 的 Si 面與 C 面兩面。從 150mm 切換到 200mm 時也不會降低生產力。Mirra 系列以高速研磨盤與多區研磨頭提升均勻性與效率,並備有終點監控、線上量測與 APC 選配。

主要規格

方式CMP(整合研磨・量測・清洗・乾燥)
適用晶圓尺寸200 mm
主要用途SiC 晶圓的表面平坦化(粗糙度為機械研削的 1/50)

規格依廠商公開資料整理,實際規格與選配請以廠商資料為準。

主要特點

針對 SiC 等硬質基板的 CMP
Si 面・C 面的自動研磨(晶圓翻面)
整合清洗・乾燥・量測・ID 讀取
可切換 150mm/200mm

主要用途

  • SiC 基板的研磨
  • SiC 功率元件的量產

製造商與在台據點

在台據點
  • 新竹據點(新竹科學園區):1996 年進駐,技術研發中心
  • 台南據點(台南):製造中心與顯示器設備製造研發中心
  • 林口・台中據點(林口・台中):營運據點

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資料來源

  1. 應用材料(Applied Materials)官方產品頁面:Applied Materials Mirra CMP 200mm