Applied Materials/SiCパワー半導体製造装置

Mirra® Durum™ CMP

研磨・除去量計測・洗浄・乾燥を1台に統合した SiC ウェーハ向け CMP 装置。

Mirra Durum CMPとは

Mirra Durum CMP は、Applied Materials の 150mm/200mm 向け CMP 装置 Mirra ファミリーに加わった、硬い基板向けの機種です。炭化ケイ素(SiC)のように硬い基板の研磨を対象にしています。

全自動のドライイン/ドライアウトの量産実績のあるシステムで、洗浄・乾燥、除去量の計測、ウェーハ ID 読み取りを統合し、量産で優れた表面品質を得ます。より強いスラリーや薬液に合わせて専用のハードウェアを最適化しています。

レシピで制御するウェーハ反転により、SiC の Si 面と C 面の両方を自動で研磨できます。150mm から 200mm への切り替えも生産性を落とさずに行えます。Mirra ファミリーは高速の研磨定盤とマルチゾーン研磨ヘッドで均一性と効率を高めており、終点監視、インライン計測、APC のオプションを備えます。

主な特長

  • •SiC など硬い基板向けの CMP
  • •Si 面・C 面の自動研磨(ウェーハ反転)
  • •洗浄・乾燥・計測・ID 読み取りを統合
  • •150mm/200mm を切り替え可能

主な仕様

方式CMP(研磨・計測・洗浄・乾燥の統合)
対応ウェハ径200 mm
主要用途SiC ウェーハの表面平坦化(機械研削比で粗さ 50 分の 1)

※ メーカーの公開情報に基づく参考値です。構成・オプションにより異なります。正確な仕様はメーカーへお問い合わせください。

主な用途

  • •SiC 基板の研磨
  • •SiC パワーデバイスの量産

掲載カテゴリ

Mirra Durum CMPは次の装置カテゴリで他社製品と並べて掲載しています。

メーカー

Applied Materials

世界最大の半導体製造装置サプライヤー。成膜、除去、改質、分析の包括的な製品ポートフォリオで、ウェーハ製造の全工程をサポート。

Applied Materials の企業情報 →メーカー公式の製品ページ ↗

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最終確認日:2026-10-06
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