最後更新:2026年10月23日CD-SEM

VeritySEM 6C CD Metrology的特點與規格

應用材料(Applied Materials)・CD-SEM

面向 SiC・GaN・GaAs 等化合物半導體的 CD-SEM,可處理各種尺寸・厚度・不透明度・導電性的晶圓。

目錄5 項
  1. 產品概要
  2. 主要規格
  3. 主要特點
  4. 製造商與在台據點
  5. 資料來源

產品概要

VeritySEM 6C 是應用材料(Applied Materials)面向化合物半導體的 CD-SEM(尺寸量測用掃描式電子顯微鏡)。車用電動化與自動駕駛所用的 SiC・GaN、次世代顯示器的 GaAs・GaN、5G/6G 通訊的 GaN-on-SiC 等化合物半導體需求持續增加。

化合物半導體的晶圓尺寸、厚度、不透明度與導電性各不相同,有時還混有 2D 與 3D 結構,使量產中的製程管理變得困難。圖案大小也從 0.1µm 到超過 100µm 不等,需要嚴格的尺寸管理。

作為在晶圓搬運與量測兩方面都具彈性的 CD-SEM,可配合化合物半導體的各種需求。

主要規格

方式CD-SEM
對象SiC・GaN・GaAs・GaN-on-SiC 等化合物半導體
圖案尺寸0.1µm~超過 100µm

規格依廠商公開資料整理,實際規格與選配請以廠商資料為準。

主要特點

面向化合物半導體的 CD-SEM
支援多種晶圓
0.1µm~超過 100µm 的圖案

主要用途

  • SiC・GaN 功率元件的尺寸量測
  • RF・顯示器用化合物元件

製造商與在台據點

在台據點
  • 新竹據點(新竹科學園區):1996 年進駐,技術研發中心
  • 台南據點(台南):製造中心與顯示器設備製造研發中心
  • 林口・台中據點(林口・台中):營運據點

所屬設備分類

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資料來源

  1. 應用材料(Applied Materials)官方產品頁面:Applied Materials VeritySEM 6C