uGmni-200C 是在愛發科(ULVAC)uGmni 標準核心上搭載 PE-CVD 模組的設備。相較於托盤式設備,微粒更少,可實現高品質的沉積。
支援 27.12MHz 的高密度電漿製程,可沉積 SiH₄ 系的 SiO₂、SiNx、SiON、a-Si,以及 TEOS 系的 SiO₂ 膜。可用 NF₃+Ar 電漿清潔腔體,支援最大 Φ200mm 的基板。
uGmni 核心也可組合濺鍍、蝕刻、灰化模組,用於功率元件、MEMS 感測器、VCSEL 等光學元件、高密度封裝、通訊元件的絕緣膜沉積。
在 uGmni 標準核心上搭載 PE-CVD 模組的設備。相較於托盤式,微粒更少,可進行高品質的沉積。
uGmni-200C 是在愛發科(ULVAC)uGmni 標準核心上搭載 PE-CVD 模組的設備。相較於托盤式設備,微粒更少,可實現高品質的沉積。
支援 27.12MHz 的高密度電漿製程,可沉積 SiH₄ 系的 SiO₂、SiNx、SiON、a-Si,以及 TEOS 系的 SiO₂ 膜。可用 NF₃+Ar 電漿清潔腔體,支援最大 Φ200mm 的基板。
uGmni 核心也可組合濺鍍、蝕刻、灰化模組,用於功率元件、MEMS 感測器、VCSEL 等光學元件、高密度封裝、通訊元件的絕緣膜沉積。
| 電漿 | 27.12 MHz 高密度電漿 |
|---|---|
| 膜種 | SiO₂・SiNx・SiON・a-Si・TEOS SiO₂ |
| 基板尺寸 | 最大 Φ200 mm |
規格依廠商公開資料整理,實際規格與選配請以廠商資料為準。
愛發科(ULVAC)(總部:日本)