Producer DARC PECVD 是應用材料的介電質抗反射層(DARC)沉積設備。抑制曝光時的反射,減少光阻劣化(毒化),並提高光阻的附著性。用於 14nm 以下的技術。
與可剝除的 CVD 硬遮罩 APF 組成 APF/DARC 堆疊,改善蝕刻選擇比、CD 控制與線邊緣粗糙度。
折射率與消光係數可大範圍調整,能在各種用途中控制反射。可與其他 CVD 介電膜原位連續沉積,也能壓低持有成本。廣泛用於閘極、多晶矽、鋁導線的微影,DARC 193 與 Low-k 膜的附著性佳,也適合雙鑲嵌。
沉積 14nm 以下微影用介電質抗反射層(DARC)的 PECVD。與 APF 硬遮罩搭配使用。
Producer DARC PECVD 是應用材料的介電質抗反射層(DARC)沉積設備。抑制曝光時的反射,減少光阻劣化(毒化),並提高光阻的附著性。用於 14nm 以下的技術。
與可剝除的 CVD 硬遮罩 APF 組成 APF/DARC 堆疊,改善蝕刻選擇比、CD 控制與線邊緣粗糙度。
折射率與消光係數可大範圍調整,能在各種用途中控制反射。可與其他 CVD 介電膜原位連續沉積,也能壓低持有成本。廣泛用於閘極、多晶矽、鋁導線的微影,DARC 193 與 Low-k 膜的附著性佳,也適合雙鑲嵌。
| 方式 | PECVD(介電質抗反射層) |
|---|---|
| 對象世代 | 14nm 以下 |
| 搭配 | APF(Advanced Patterning Film)硬遮罩 |
規格依廠商公開資料整理,實際規格與選配請以廠商資料為準。