最後更新:2026年10月23日光罩檢測設備

MATRICS X8ULTRA 系列的特點與規格

Lasertec・光罩檢測設備

同時支援未裝光罩保護膜之 EUV 光罩與 DUV 光罩的光罩檢測設備,搭載光罩對光罩比對檢測。

目錄5 項
  1. 產品概要
  2. 主要規格
  3. 主要特點
  4. 製造商與在台據點
  5. 資料來源

產品概要

MATRICS X8ULTRA 系列是 Lasertec 的光罩檢測設備,同時支援未裝光罩保護膜的 EUV 光罩與 DUV 光罩。

以 45nm 像素尺寸、超過 400mW 的高功率 213nm QCW 雷射,以及 2 種偏光照明提升異物檢出性能。搭載光罩對光罩比對檢測(MtM),保存初始狀態光罩圖案的完整影像,並與曝光後的光罩圖案比對,以檢出光罩上的異物。

支援 EUV 光罩用的 Dual Pod,以及光罩用的 RSP150・RSP200,可進行與天車搬送(OHT)連動的全自動檢測。並將載台系統與電氣機櫃系統一體化,縮小占地面積。

主要規格

光學系統像素 45nm・213nm QCW 雷射(超過 400mW)・2 種偏光照明
對象未裝光罩保護膜的 EUV 光罩・DUV 光罩
功能光罩對光罩比對(MtM)・與 OHT 連動的全自動檢測

規格依廠商公開資料整理,實際規格與選配請以廠商資料為準。

主要特點

同時支援 EUV/DUV 光罩
像素 45nm・213nm QCW 雷射
光罩對光罩比對檢測
與 OHT 連動的全自動檢測

主要用途

  • 晶圓廠的光罩品質確認
  • 光罩的出貨前檢測

製造商與在台據點

在台據點
  • Lasertec Taiwan(新竹縣竹北市):2010 年成立,負責銷售與技術支援

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資料來源

  1. Lasertec 官方產品頁面:MATRICS X8ULTRA