最後更新:2026年10月23日巨觀檢測設備

ZI-2000的特點與規格

SCREEN(斯庫林)・巨觀檢測設備

追求速度・小型化・成本效益、支援 76~200mm 的圖案化晶圓外觀檢測設備。

目錄5 項
  1. 產品概要
  2. 主要規格
  3. 主要特點
  4. 製造商與在台據點
  5. 資料來源

產品概要

ZI-2000 是 SCREEN 的圖案化晶圓外觀檢測設備。追求高速、小型與成本效益,廣泛支援從需要彈性的前段製程中檢測,到要求速度的最終外觀檢測。

以採用自製鏡頭與照明系統的檢測頭和高速影像處理引擎,實現不受晶片大小或數量影響的高產能。

由於採用不需事先學習影像的比較檢測方式(Die to Die、Cell to Cell),檢測配方製作簡單,新的晶圓也能立即檢測。可即時確認包含缺陷候選影像的檢測結果,並以即時的自動缺陷分類(ADC)只確認必要的結果。光源為 RGB 3 色 LED。

主要規格

適用晶圓尺寸76~200 mm
檢測方式比較檢測(Die to Die・Cell to Cell)
光學解析度1.5µm・4µm

規格依廠商公開資料整理,實際規格與選配請以廠商資料為準。

主要特點

比較檢測不需學習影像
即時 ADC
RGB 3 色 LED 照明

主要用途

  • 製程中檢測・最終外觀檢測

製造商與在台據點

在台據點
  • 台灣迪恩士半導體科技(SCREEN SPE Taiwan)(新竹):1990 年成立的台灣子公司
  • 服務據點(林口・台中・台南):就近支援北部、中部與南部科學園區的晶圓廠

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資料來源

  1. SCREEN(斯庫林)官方產品頁面:SCREEN ZI-2000