ZI-2000 是 SCREEN 的圖案化晶圓外觀檢測設備。追求高速、小型與成本效益,廣泛支援從需要彈性的前段製程中檢測,到要求速度的最終外觀檢測。
以採用自製鏡頭與照明系統的檢測頭和高速影像處理引擎,實現不受晶片大小或數量影響的高產能。
由於採用不需事先學習影像的比較檢測方式(Die to Die、Cell to Cell),檢測配方製作簡單,新的晶圓也能立即檢測。可即時確認包含缺陷候選影像的檢測結果,並以即時的自動缺陷分類(ADC)只確認必要的結果。光源為 RGB 3 色 LED。
追求速度・小型化・成本效益、支援 76~200mm 的圖案化晶圓外觀檢測設備。
ZI-2000 是 SCREEN 的圖案化晶圓外觀檢測設備。追求高速、小型與成本效益,廣泛支援從需要彈性的前段製程中檢測,到要求速度的最終外觀檢測。
以採用自製鏡頭與照明系統的檢測頭和高速影像處理引擎,實現不受晶片大小或數量影響的高產能。
由於採用不需事先學習影像的比較檢測方式(Die to Die、Cell to Cell),檢測配方製作簡單,新的晶圓也能立即檢測。可即時確認包含缺陷候選影像的檢測結果,並以即時的自動缺陷分類(ADC)只確認必要的結果。光源為 RGB 3 色 LED。
| 適用晶圓尺寸 | 76~200 mm |
|---|---|
| 檢測方式 | 比較檢測(Die to Die・Cell to Cell) |
| 光學解析度 | 1.5µm・4µm |
規格依廠商公開資料整理,實際規格與選配請以廠商資料為準。