ASML/DUV露光装置

TWINSCAN NXT:1470

NXT プラットフォーム初のドライ ArF 露光装置。露光装置として初めて毎時 300 枚を超えた。

TWINSCAN NXT:1470とは

TWINSCAN NXT:1470 は、ASML の 193nm ステップ・アンド・スキャン露光装置です。高生産性・高精度の NXT プラットフォーム上に作られた初めての「ドライ」露光装置です。

ドライ装置として初めて製品上の重ね合わせ 4.5nm 未満を達成し、あらゆる露光装置で初めて毎時 300 枚を超える処理能力を持ちます。

優れた重ね合わせとスループットで露光 1 回あたりのコストを下げ、同じリソセルの面積から最大 50% 多くのウェーハを生産できます。今後の KrF の NXT 装置にもつながり、装置間マッチングを高めながらチップ製造のコストを下げます。

主な特長

  • •NXT 初のドライ ArF
  • •毎時 300 枚超
  • •重ね合わせ 4.5nm 未満

主な仕様

光源ArF ドライ(193nm)
重ね合わせ製品上 4.5nm 未満(ドライ機で初)
スループット毎時 300 枚超

※ メーカーの公開情報に基づく参考値です。構成・オプションにより異なります。正確な仕様はメーカーへお問い合わせください。

スペック比較

複数の機種が掲載している項目を並べています。

項目ASMLTWINSCAN NXT:2100iASMLTWINSCAN NXT:2150iASMLTWINSCAN NXT:2050iASMLTWINSCAN NXT:2000iASMLTWINSCAN NXT:1980FiASMLTWINSCAN NXT:1470ASMLTWINSCAN XT:1460KASMLTWINSCAN XT:1060KASMLTWINSCAN NXT:870BASMLTWINSCAN NXT:870ASMLTWINSCAN XT:860NASMLTWINSCAN XT:860Mニコン(Nikon)NSR-S635Eニコン(Nikon)NSR-S636Eニコン(Nikon)NSR-S625Eニコン(Nikon)NSR-S333Fニコン(Nikon)NSR-S322Fニコン(Nikon)NSR-S220Dニコン(Nikon)NSR-S215Dキヤノン(Canon)FPA-3030EX6キヤノン(Canon)FPA-6300ES6aキヤノン(Canon)FPA-6300ESW
光源ArF 液浸(193 nm)ArF 液浸(193nm)ArF 液浸(193nm)ArF 液浸(193nm)ArF 液浸(193nm)ArF ドライ(193nm)ArF ドライ(193nm・45W レーザ)KrF(248nm・40W レーザ)KrF ドライ(248nm)KrF(248nm・40/60W レーザ)KrF(248nm・40/50/60W レーザ)KrF(248nm・40W レーザ)ArF 液浸(193 nm)——————KrF(248 nm)——
スループット—————毎時 300 枚超——毎時 400 枚(300mm)毎時 330 枚(300mm)毎時 260 枚(300mm)・275 枚(200mm)—275 枚/時 以上(96 ショット)毎時 280 枚以上(96 ショット)毎時 280 枚以上(96 ショット)毎時 300 枚以上(96 ショット)毎時 230 枚以上(オプションで 250 枚以上)毎時 230 枚以上(96 ショット)毎時 330 枚以上(200mm・46 ショット)/200 枚以上(300mm・96 ショット)121 枚/時 以上——
重ね合わせ精度単体機 0.9 nm・機間 1.3 nm(前機種比 10%/13% 改善)———————————MMO 2.1 nm 以下MMO 2.1nm 以下MMO 2.5nm 以下MMO 4nm 以下MMO 5nm 以下MMO 6nm 以下—25 nm 以下5nm 以下(オプション適用時)9nm 以下
解像度————38 nm—65 nm—————38 nm 以下38nm 以下38nm 以下65nm 以下65nm 以下110nm 以下110nm 以下150 nm 以下——
投影光学系——NA 1.35NA 1.35(インライン反射屈折レンズ)——可変 NA 0.93——可変 NA 0.55〜0.80(ZEISS Starlith 865)可変 NA 0.55〜0.80(ZEISS Starlith 860+)可変 NA 0.55〜0.80(Carl Zeiss Starlith 860+)——————————
光源・NA—————————————ArF 液浸(193nm)・1.35ArF 液浸(193nm)・1.35ArF ドライ(193nm)・0.92ArF ドライ(193nm)・0.92KrF(248nm)・0.82KrF(248nm)・0.82———
対応ウェハ径300 mm——————————300 mm———————100/125/150/200 mm(選択)——
主要用途先端メモリ・ロジック(EUV との混用工程)——————2X nm 以降のメタル・ビア・注入層——————————————
改善—製品上の重ね合わせ 15% 改善・スループット 5% 向上——————NXT:870 比 20% 向上—————————————
特徴—ダイヤモンドウェーハテーブル—————KrF で業界最高の NA と生産性——————————————
開口数(NA)————————————1.35——————0.65 ~ 0.50(自動可変)——
光源・解像力————————————————————KrF 248nm・90nm 以下KrF 248nm・130nm 以下
1機種だけが掲載している項目(9件)
ステージデュアルステージ—————————————————————
プラットフォーム——NXT4———————————————————
生産性———最高 1 日 4,600 枚——————————————————
性能————装置間マッチング重ね合わせ 2.5nm・毎時 330 枚—————————————————
重ね合わせ—————製品上 4.5nm 未満(ドライ機で初)————————————————
関連機種————————————NSR-S636E(後継機)—————————
ウェハサイズ——————————————————200/300mm 両対応———
NA・画面サイズ————————————————————0.86〜0.50(自動可変)・26 × 33mm—
画面サイズ・縮小比—————————————————————33 × 42.2mm・1:3.125

※ スペックは各メーカーの公開情報に基づく参考値です。メーカーが公表していない項目は「—」としています。正確な仕様はメーカーへお問い合わせください。

主な用途

  • •ArF ドライ層の量産

掲載カテゴリ

TWINSCAN NXT:1470は次の装置カテゴリで他社製品と並べて掲載しています。

メーカー

ASML

EUV露光装置の唯一のグローバルサプライヤー。極紫外光リソグラフィ技術でムーアの法則を延命させ、5nm以下の先端プロセスに不可欠。

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出典・確認した公開情報
最終確認日:2026-10-07
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