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ASML／オーバーレイ計測装置

YieldStar 1390

エッチング後の工程監視向けの単体光学計測装置。YieldStar 1385 の後継で、デバイス上の重ね合わせ・傾き・CD を測る。

YieldStar 1390とは

YieldStar 1390 は、ASML の単体の光学計測装置で、YieldStar 1385 の後継機です。エッチング後の工程監視でスループットを高めました。

デバイス上の重ね合わせ（インデバイスオーバーレイ）をナノメートル級の精度で速く正確に測れます。エッチング後の計測で、デバイス構造の上で直接重ね合わせを監視でき、走査電子顕微鏡（SEM）による方法より速いため、コストを抑えつつ重ね合わせ性能と歩留まりを高めます。

新しい高強度の光源でスループットと精度を高めました。機械学習アルゴリズムと信号処理の進化で、エッチング後の計測の用途をデバイス上の傾きや CD にも広げています。

主な特長

  • •エッチング後のデバイス上計測
  • •SEM より高速
  • •傾き・CD にも対応

主な仕様

方式光学計測（エッチング後）
測定項目デバイス上の重ね合わせ・傾き・CD
特徴高強度光源・機械学習アルゴリズム

※ メーカーの公開情報に基づく参考値です。構成・オプションにより異なります。正確な仕様はメーカーへお問い合わせください。

スペック比較

複数の機種が掲載している項目を並べています。

項目KLAArcher™ 750KLAATL100™KLAArcher™ PowerASMLYieldStar 1390ASMLYieldStar 1385ASMLYieldStar 500Onto InnovationIVS 380Onto InnovationIVS 280ニコン（Nikon）Litho Booster
方式—スキャトロメトリ重ね合わせ計測（波長可変レーザー・分解能 1nm）イメージング重ね合わせ・CD 計測光学計測（エッチング後）光学計測（エッチング後）回折ベースの光学計測（エッチング前）光学式の重ね合わせ・CD・Z 高さ計測——
特徴波長可変光源リアルタイム Homing・ダイ内／小ピッチターゲット対応—高強度光源・機械学習アルゴリズム複数層の同時計測・高いサンプリング密度TWINSCAN ステージ技術・新センサー———
対応基板——Si・SiC・GaN・GaAs・ガラス・サファイアなど———200mm（SMIF）・300mm（FOUP）、Si・ガラス・CCLSi・SiC・石英・ガラス・GaAs・GaN・LiNbO₃—
対応ウェハ径——150／200／300 mm・ブリッジ構成————100〜200 mm—
測定項目———デバイス上の重ね合わせ・傾き・CD—重ね合わせ・フォーカス———
1機種だけが掲載している項目（10件）
測定方式イメージングベース・オーバーレイ計測————————
対象世代7nm 以下ロジック・先端メモリ————————
関連機種Archer 800（後継）・ATL100（散乱計測方式）————————
対象ノード—7nm 以下———————
測定対象————デバイス上の特徴・専用の小型ターゲット————
主要用途——————RDL 配線・ポスト・バンプの計測——
信頼性———————MTBF 2,000 時間超—
計測————————露光前の全ウェハ・全ショットのグリッド歪み
補正————————露光装置へのフィードフォワード
組み合わせ————————液浸スキャナー・ドライスキャナー

※ スペックは各メーカーの公開情報に基づく参考値です。メーカーが公表していない項目は「—」としています。正確な仕様はメーカーへお問い合わせください。

主な用途

  • •エッチング後の重ね合わせ監視

掲載カテゴリ

YieldStar 1390は次の装置カテゴリで他社製品と並べて掲載しています。

オーバーレイ計測装置

オーバーレイ計測装置は、多層リソグラフィ工程において前のパターン層と現在の露光層の位置ずれ（オーバーレイ誤差）を光学的に高速・精密計測する装置です。

メーカー 5 社

メーカー

ASML

EUV露光装置の唯一のグローバルサプライヤー。極紫外光リソグラフィ技術でムーアの法則を延命させ、5nm以下の先端プロセスに不可欠。

ASML の企業情報 →メーカー公式の製品ページ ↗

オーバーレイ計測装置のほかの製品

Archer™ 750（KLA）ATL100™（KLA）Archer™ Power（KLA）YieldStar 1385（ASML）YieldStar 500（ASML）IVS 380（Onto Innovation）IVS 280（Onto Innovation）Litho Booster（ニコン（Nikon））

ASMLのほかの製品

TWINSCAN NXE:3600D（EUV露光装置）TWINSCAN NXT:2100i（DUV露光装置）TWINSCAN EXE:5000（EUV露光装置）TWINSCAN EXE:5200B（EUV露光装置）TWINSCAN NXE:3800E（EUV露光装置）TWINSCAN NXE:3400C（EUV露光装置）TWINSCAN NXT:2150i（DUV露光装置）TWINSCAN NXT:2050i（DUV露光装置）TWINSCAN NXT:2000i（DUV露光装置）TWINSCAN NXT:1980Fi（DUV露光装置）TWINSCAN NXT:1470（DUV露光装置）TWINSCAN XT:1460K（DUV露光装置）TWINSCAN XT:1060K（DUV露光装置）TWINSCAN NXT:870B（DUV露光装置）TWINSCAN NXT:870（DUV露光装置）TWINSCAN XT:860N（DUV露光装置）TWINSCAN XT:860M（DUV露光装置）TWINSCAN XT:400M（i線ステッパー）TWINSCAN XT:260（i線ステッパー）YieldStar 1385（オーバーレイ計測装置）YieldStar 500（オーバーレイ計測装置）HMI eScan 1100（電子線（EB）検査装置）HMI eScan 600（電子線（EB）検査装置）HMI eP5（電子線（EB）検査装置）

関連用語

オーバーレイ計測とは→オーバーレイとは→
出典・確認した公開情報
最終確認日：2026-10-07
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