最後更新:2026年10月23日CVD 設備

Centura DXZ CVD的特點與規格

應用材料(Applied Materials)・CVD 設備

適用 150mm/200mm 的 CVD。可因應 20µm 以上的超厚氧化膜與低於 200℃ 的低溫處理,也能處理 SiC 晶圓。

目錄5 項
  1. 產品概要
  2. 主要規格
  3. 主要特點
  4. 製造商與在台據點
  5. 資料來源

產品概要

Centura DXZ CVD 是應用材料適用 150mm・200mm 的 CVD 設備。可因應先進 CMOS 與 More than Moore(MtM)領域所要求的 20µm 以上超厚氧化膜、低於 200℃ 的低溫處理、濕式蝕刻速率低的共形薄膜,以及可調整折射率的摻雜薄膜等。

具備 TEOS、矽烷系氧化膜、氮化膜、Low-k、應變控制薄膜,乃至微影用薄膜等廣泛的製程。可安全處理包含 SiC 晶圓在內的各種 MtM 基板。

採單晶圓・多腔體架構,3,000Å 的 PE TEOS 與電漿矽烷處理量最高 80 wph,2,000Å 的 SACVD USG 最高 35 wph。以零耗材零件的製程套件與小腔體容積降低擁有成本。

主要規格

適用晶圓尺寸150/200 mm(亦支援 SiC 晶圓)
膜種TEOS・矽烷系氧化膜・氮化膜・Low-k 等
產能PE TEOS・電漿矽烷最高 80 wph

規格依廠商公開資料整理,實際規格與選配請以廠商資料為準。

主要特點

適用 150/200mm
20µm 以上厚膜・低於 200℃ 的低溫
支援 SiC 晶圓
最高 80 wph

主要用途

  • 功率・MEMS 等 MtM 元件
  • 厚氧化膜的沉積

製造商與在台據點

在台據點
  • 新竹據點(新竹科學園區):1996 年進駐,技術研發中心
  • 台南據點(台南):製造中心與顯示器設備製造研發中心
  • 林口・台中據點(林口・台中):營運據點

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資料來源

  1. 應用材料(Applied Materials)官方產品頁面:Applied Materials Centura DXZ CVD