ゼロディフェクト（ZD）とは、不良を許容するのではなく、不良ゼロを目標に設計から製造・試験まで品質を作り込む考え方で、1960年代に広まりました。半導体では特に車載向けで重視され、DPPMを1桁からゼロへ近づける取り組みが行われています。SPC、全数試験、PAT、バーンイン、原因の徹底的な追究などで実現します。
目次7項目
- 定義・解説
- 図解
- よくある質問
- 設備の製造メーカー
- 関連用語
- 比較・違いを学ぶ
- 出典・参考資料
定義・解説
ゼロディフェクト（ZD：Zero Defect、無欠陥）とは、不良品を「ある程度出るもの」として許すのではなく、不良をゼロにすることを目標に、設計から製造・試験まで品質を作り込むという考え方です。1960年代に米国で提唱され、日本でもZD運動として多くの製造業に広まりました。
半導体では、特に車載向けの製品でこの考え方が重視されています。自動車の電子化が進み、1台に数千個の半導体が使われるようになると、1個の不良が車の故障や事故につながりかねません。そのため、市場での不良の割合をDPPM（100万個あたりの不良数）で管理し、1桁のDPPMから、さらに0（ゼロ）を目指す取り組みが行われています。
実現のための手段は、設計の段階での余裕の確保、統計的工程管理（SPC）による製造のばらつきの抑制、全数の試験、ほかのチップから外れた特性を持つチップを統計的に取り除くPAT（部品平均試験）、バーンインなどのスクリーニング、不良が見つかったときの徹底した原因の追究（8Dなど）です。完全なゼロは現実には難しいものの、不良が出るたびに原因をつぶし続けることで、限りなくゼロに近づけるという姿勢を表しています。
図解
完全なゼロは難しいが、限りなく近づける姿勢を表す考え方。よくある質問（FAQ）
車載半導体でゼロディフェクトが重視されるのはなぜですか？
1台の車に数千個の半導体が使われ、1個の不良が車の故障や事故、大規模なリコールにつながりかねないからです。車は長い期間、厳しい温度や振動の中で使われるため、民生品より桁違いに少ない不良率が求められ、DPPMを限りなくゼロに近づける取り組みが行われています。
PAT（部品平均試験）とは何ですか？
試験に合格したチップの中でも、ほかの大多数のチップから統計的に外れた特性を持つものを、将来故障しやすい候補として取り除く方法です。規格の範囲内であっても、ばらつきの分布の端にあるチップは潜在的な欠陥を持つ可能性が高いという考え方に基づいています。
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