T5851／T5851ESとは
T5851／T5851ES は、アドバンテストのプロトコル NAND 向けメモリテストシステムです。UFS 4.0 や PCIe Gen5 の組み込み NAND など、高速インターフェースを持つ NAND フラッシュを対象としています。
量産モデルの T5851 とエンジニアリングモデルの T5851ES があり、信頼性・認定試験からテストプログラム開発、ハンドラと組み合わせた量産まで同じ系統の装置で進められます。同時測定数は 512、テスト速度は最大 32Gbps です。
アーキテクチャは DUT ごとにテスタを割り当てるテスタ・パー・DUT 方式で、独自のハードウェアアクセラレータを持ちます。ソフトウェアは T5800 シリーズ共通の FutureSuite で、液冷に対応した高電流プログラマブル電源を備えます。
主な特長
- •UFS 4.0・PCIe Gen5 の組み込み NAND に対応
- •最大 32Gbps、同時測定数 512
- •テスタ・パー・DUT 方式と独自ハードウェアアクセラレータ
- •量産モデル／エンジニアリングモデルの2構成
主な仕様
| 対応デバイス | UFS 4.0・PCIe Gen5 embedded NAND |
|---|---|
| 高速モジュール | T5851-STM32G（最大 32 Gbps） |
| 構成 | 量産モデル／エンジニアリングモデル |
| 測定方式 | テスタ・パー・DUT |
| 主要用途 | システムレベルテスト・信頼性／特性評価 |
※ メーカーの公開情報に基づく参考値です。構成・オプションにより異なります。正確な仕様はメーカーへお問い合わせください。
スペック比較
複数の機種が掲載している項目を並べています。
| 項目 | アドバンテストT5503HS2 | アドバンテストT5851／T5851ES | Teradyne（テラダイン）Magnum EPIC |
|---|---|---|---|
| 対応デバイス | DDR5・LPDDR5・DDR4・LPDDR4・HBM | UFS 4.0・PCIe Gen5 embedded NAND | LPDDR5・DDR5・GDDR6 |
| チャンネル数 | 16,256 | — | 18,400 ch 超（7 Gbps／ch） |
| 特徴 | DQS-DQタイミング自動調整・ALPG搭載 | — | Near-DUT-Test 技術 |
| 構成 | — | 量産モデル／エンジニアリングモデル | 最大 128 MTU（1 MTU あたり 144 高速ピン） |
1機種だけが掲載している項目（6件）
| 最大評価速度 | 9 Gbps | — | — |
|---|---|---|---|
| タイミング確度 | ±45 ps | — | — |
| 高速モジュール | — | T5851-STM32G（最大 32 Gbps） | — |
| 測定方式 | — | テスタ・パー・DUT | — |
| 主要用途 | — | システムレベルテスト・信頼性／特性評価 | — |
| 電源チャンネル | — | — | 2,000 ch |
※ スペックは各メーカーの公開情報に基づく参考値です。メーカーが公表していない項目は「—」としています。正確な仕様はメーカーへお問い合わせください。
主な用途
- •プロトコル NAND のシステムレベルテスト
- •信頼性・認定試験、テストプログラム開発
掲載カテゴリ
T5851／T5851ESは次の装置カテゴリで他社製品と並べて掲載しています。
メーカー
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関連用語
出典・確認した公開情報
最終確認日：2026-10-05