最後更新:2026年10月8日曝光・微影EUV 曝光・微影中國大陸:High-NA EUV 光刻

High-NA EUV 曝光是什麼

High-NA EUV Lithography

High-NA EUV 曝光是將數值孔徑(NA)從傳統 EUV 設備的 0.33 擴大到 0.55 的次世代 EUV 曝光技術,可形成比傳統 EUV 微細約1.7倍的圖形。

目錄4 項
  1. 定義與原理
  2. 相關企業
  3. 相關用語
  4. 比較文章

定義與原理

High-NA EUV 曝光(High Numerical Aperture EUV Lithography)是將數值孔徑(NA:Numerical Aperture)從傳統 EUV 設備的 0.33 擴大到 0.55 的次世代 EUV 曝光技術。提高 NA 可提升解析度,形成比傳統 EUV 微細約1.7倍的圖形(單次曝光即可達 13nm 以下的半間距)。ASML 開發的 EXE:5000 系列是唯一的商用設備,首批機台已於 2024~2025年交付英特爾、台積電、三星。

High-NA EUV 的主要技術革新在於光學系統的大型化。為了將 NA 從 0.33 擴大到 0.55,最終聚光反射鏡(最終反射鏡)的直徑比過去大幅增加,設備高度達約 15m、重量約 350 噸。曝光視野從過去的 26×33mm² 縮小為 11×33mm²,曝光同一晶粒所需的照射次數(shot 數)增加,確保產能成為課題(EXE:5000:每小時 100~185 片)。

各家導入 High-NA EUV 的路線圖不同。Intel 14A(預定 2026~2027年量產):表明最早導入,計畫結合 RibbonFET(GAA)+PowerVia(BSPDN)+High-NA EUV 的超先進製程。TSMC A14(暫稱,2027~2028年):作為 N2/A16 的 High-NA 版本開發中。Samsung SF1(2027年以後):三星晶圓代工也已導入評估機。

High-NA EUV 曝光用的光阻,需要與傳統 EUV 用光阻不同的特性。由於曝光視野縮小,每1片晶圓的曝光照射次數增加,因此需要高感度且粗糙度(LER・LWR)小的光阻。金屬氧化物光阻(Metal-Oxide Resist:MOR)作為有力候選正在開發中,JSR(子公司 Inpria)、信越化學、東洋合成 是主要供應商。此外,EUV 光罩的光化(actinic)檢測(以 13.5nm 光進行的缺陷檢測)必須使用 Lasertec 的 ACTIS 設備。

據報導,1台 High-NA EUV 設備的價格超過 3.5億歐元(約550億日圓),EXE:5000 在 2025~2026年的交付台數合計約 10~20台,仍處於初期階段。從設備價格、安裝成本、耗電量(1台超過 1MW)與無塵室面積來看,能夠採用的僅限於資本雄厚的最先進晶圓代工廠(台積電・三星・英特爾)。High-NA EUV 的投資金額已成為 ASML 最大的成長動力,是左右其 2026~2030年業績的最重要產品。

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