VIANCA 系列是 Lasertec 的通孔深度量測設備,於2023年12月發表。在 3D・2.5D 封裝與混合鍵合製程中,以高精度量測高深寬比小孔徑通孔的深度。
以獨家光學系統量測高深寬比小孔徑通孔的深度,也能因應新一代 TSV 的形狀。
用於通孔蝕刻後的深度量測、混合鍵合中 Cu 凹陷(recess)量的管理,以及 Cu 頂端露出後與凸塊形成製程中的高度量測。
高精度量測 3D・2.5D 封裝及混合鍵合中高深寬比・小孔徑通孔深度的通孔深度量測設備。
VIANCA 系列是 Lasertec 的通孔深度量測設備,於2023年12月發表。在 3D・2.5D 封裝與混合鍵合製程中,以高精度量測高深寬比小孔徑通孔的深度。
以獨家光學系統量測高深寬比小孔徑通孔的深度,也能因應新一代 TSV 的形狀。
用於通孔蝕刻後的深度量測、混合鍵合中 Cu 凹陷(recess)量的管理,以及 Cu 頂端露出後與凸塊形成製程中的高度量測。
| 方式 | 以獨家光學系統量測深度 |
|---|---|
| 對象 | 高深寬比・小孔徑通孔(新一代 TSV) |
| 主要用途 | 通孔蝕刻後的深度・Cu 凹陷量・凸塊高度 |
規格依廠商公開資料整理,實際規格與選配請以廠商資料為準。