M-8000 シリーズとは
M-8000 シリーズは、日立ハイテクのコンダクターエッチング装置です。32nm 世代以降のハードマスクとシリコンの加工に対応します。
先端デバイスメーカーや材料・装置メーカーとの共同開発(JDP)で、ダブルパターニングなどの新しいプロセスや、高誘電率ゲート絶縁膜、メタルゲートなどの新材料にも対応しています。
日立独自のマイクロ波 ECR 方式のエッチングチャンバは、高速なウェーハ温度制御、高真空制御、同軸のチャンバ構造で、優れた寸法制御性とウェーハ面内均一性を実現します。独自のデータ収集・解析・制御システムによる AEC・APC の技術で、生産性の向上にも貢献します。
主な特長
- •マイクロ波 ECR 方式
- •同軸チャンバ構造
- •AEC/APC 技術
- •最大 4 チャンバ
主な仕様
| 方式 | マイクロ波 ECR プラズマエッチング(同軸チャンバ構造) |
|---|---|
| 対応ウェハ径 | 300 mm |
| 装置構成 | 最大 4 チャンバ |
※ メーカーの公開情報に基づく参考値です。構成・オプションにより異なります。正確な仕様はメーカーへお問い合わせください。
スペック比較
複数の機種が掲載している項目を並べています。
| 項目 | 東京エレクトロン(TEL)Tactras™ | Lam ResearchKiyo®(コンダクタエッチング) | Applied MaterialsCentura® Etch | 日立ハイテク9000 シリーズ(コンダクターエッチング装置) | 日立ハイテクM-8000 シリーズ(コンダクターエッチング装置) |
|---|---|---|---|---|---|
| 方式 | 反応性イオンエッチング(RIE) | 反応性イオンエッチング(RIE)、プラズマ ALE 対応 | 枚葉・マルチチャンバー(最大 4 チャンバー) | マイクロ波 ECR プラズマエッチング | マイクロ波 ECR プラズマエッチング(同軸チャンバ構造) |
| 対応ウェハ径 | 300 mm | — | 150/200 mm(Centura AP は 200/300 mm) | 300 mm | 300 mm |
| 主要用途 | コンダクタ・絶縁膜エッチング | High-k/メタルゲート・マルチパターニング | パワー・MEMS・化合物半導体などの成熟ノード | — | — |
| 装置構成 | — | — | — | 最大 9 チャンバ(リンク式プラットフォーム) | 最大 4 チャンバ |
1機種だけが掲載している項目(3件)
| チャンバー構成 | 最大 6 チャンバー(水平対向設計) | — | — | — | — |
|---|---|---|---|---|---|
| 主な技術 | — | Hydra(CD 均一性補正)・Corvus(ウェーハエッジのシース制御) | — | — | — |
| 対象 | — | — | ポリSi・メタル・酸化膜・DRIE | — | — |
※ スペックは各メーカーの公開情報に基づく参考値です。メーカーが公表していない項目は「—」としています。正確な仕様はメーカーへお問い合わせください。
主な用途
- •ハードマスク・シリコンの加工
- •High-k/メタルゲートの加工
掲載カテゴリ
M-8000 シリーズは次の装置カテゴリで他社製品と並べて掲載しています。
メーカー
日立ハイテク
世界をリードする計測・検査技術のパイオニア。電子顕微鏡技術を核とした「見る・測る・分析する」の総合力で、2nm/3nm世代の先端半導体製造をサポート。
ポリシリコンエッチャーのほかの製品
日立ハイテクのほかの製品
LS9300AD(異物・パーティクル検査装置)DI4600(暗視野式ウェーハ欠陥検査装置)(ウェハ検査装置)DI2800(光学式ウェーハ検査装置)CR7300(レビューSEM)GT2000(高精度電子線計測システム)(CD-SEM)CG7300(高分解能FEB測長装置)(CD-SEM)イオンミリング装置 ArBlade® 5000(IC開封・断面加工装置)ナノ・プローバ® NP8000(故障解析装置)SU7000(形態観察装置(SEM/TEM))NEXTA® STA200(熱分析装置(TG-DTA/DSC))9000 シリーズ(コンダクターエッチング装置)(ポリシリコンエッチャー)M-600/6000 シリーズ(コンダクターエッチング装置)(パワー半導体)CV7300(高加速 CD-SEM)(CD-SEM)CS5000(高分解能 FEB 測長装置)(CD-SEM)CT1000(欠陥形状評価 SEM)(レビューSEM)
関連用語
出典・確認した公開情報
最終確認日:2026-10-07