Centura® Etch
シリコン・メタル・絶縁膜をエッチングする Applied Materials の枚葉マルチチャンバー装置。150/200mm 向けと、200/300mm 向けの Centura AP がある。
Centura Etchとは
Centura Etch は、シリコン・メタル・絶縁膜のエッチングを高い生産性で行う Applied Materials の枚葉マルチチャンバー装置です。ゲート、素子分離トレンチ、高アスペクト比コンタクト、配線層の金属や絶縁膜のどれでも、CD(寸法)を正確かつ均一に制御することが歩留まりの鍵になります。
150mm/200mm 向けに設計されたシステムは、110:1 未満の高アスペクト比エッチングや、ITO・SiC・InGaAlP・GaAs・GaN など新材料のエッチングに対応し、パワーデバイスや LED を含む More than Moore 用途を支えています。Centura と Centura AP のメインフレームは最大 4 つのプロセスチャンバーで連続処理ができます。
150/200mm の Centura DPS DTM は DRIE で側壁の平滑さとトレンチ形状を制御し、Centura DPS Plus はメタルエッチの業界標準とされています。200/300mm の Centura AP はポリ・メタル・酸化膜・DRIE のエッチングに対応し、III-V 材料を含む多様な基板の搬送に配慮した機能を備えます。
主な特長
- •最大 4 プロセスチャンバーの枚葉マルチチャンバー構成
- •アスペクト比 110:1 未満の高アスペクト比エッチング
- •SiC・GaN・GaAs・ITO など新材料に対応
- •EyeD 全スペクトル終点検出
主な仕様
| 対応ウェハ径 | 150/200 mm(Centura AP は 200/300 mm) |
|---|---|
| 方式 | 枚葉・マルチチャンバー(最大 4 チャンバー) |
| 対象 | ポリSi・メタル・酸化膜・DRIE |
| 主要用途 | パワー・MEMS・化合物半導体などの成熟ノード |
※ メーカーの公開情報に基づく参考値です。構成・オプションにより異なります。正確な仕様はメーカーへお問い合わせください。
スペック比較
複数の機種が掲載している項目を並べています。
| 項目 | 東京エレクトロン(TEL)Tactras™ | Lam ResearchKiyo®(コンダクタエッチング) | Applied MaterialsCentura® Etch |
|---|---|---|---|
| 方式 | 反応性イオンエッチング(RIE) | 反応性イオンエッチング(RIE)、プラズマ ALE 対応 | 枚葉・マルチチャンバー(最大 4 チャンバー) |
| 主要用途 | コンダクタ・絶縁膜エッチング | High-k/メタルゲート・マルチパターニング | パワー・MEMS・化合物半導体などの成熟ノード |
| 対応ウェハ径 | 300 mm | — | 150/200 mm(Centura AP は 200/300 mm) |
1機種だけが掲載している項目(3件)
| チャンバー構成 | 最大 6 チャンバー(水平対向設計) | — | — |
|---|---|---|---|
| 主な技術 | — | Hydra(CD 均一性補正)・Corvus(ウェーハエッジのシース制御) | — |
| 対象 | — | — | ポリSi・メタル・酸化膜・DRIE |
※ スペックは各メーカーの公開情報に基づく参考値です。メーカーが公表していない項目は「—」としています。正確な仕様はメーカーへお問い合わせください。
主な用途
- •ポリシリコン・メタル・酸化膜のエッチング
- •パワーデバイス・LED・MEMS の DRIE
掲載カテゴリ
Centura Etchは次の装置カテゴリで他社製品と並べて掲載しています。
メーカー
世界最大の半導体製造装置サプライヤー。成膜、除去、改質、分析の包括的な製品ポートフォリオで、ウェーハ製造の全工程をサポート。