T6391とは
T6391 は、アドバンテストのディスプレイドライバ IC（DDI）向けテストシステムです。世界で 3,700 台以上の導入実績を持つ DDI テストの業界標準機「T6300 シリーズ」の最新機種です。
ディスプレイの高解像度化や機能の増加で、DDI には高性能化と機能統合が求められ、テストも複雑になっています。T6391 は多ピン化、データの高速化、多機能化といった次世代 DDI に対応しつつ、TDL 言語などの使用環境を受け継ぎ、データ処理と伝送の速度を大幅に高めました。
最大 3,584 チャンネルの LCD テストで最適なマルチサイトテストができ、進化した CPU とアーキテクチャで高スループットを実現します。モバイル向け TDDI や AR/VR 向けの高精度・小振幅 DDI、高速 DDI に対応し、マイクロボルト単位の高精度なグレースケールテストも行えます。
主な特長
- •DDI テストの業界標準シリーズ
- •最大 3,584 チャンネル
- •T6300 と同じプログラム環境
主な仕様
| 対象 | ディスプレイドライバ IC（TDDI・AR/VR 向けなど） |
|---|---|
| チャンネル | 最大 3,584（LCD テスト） |
| 実績 | T6300 シリーズで 3,700 台以上 |
※ メーカーの公開情報に基づく参考値です。構成・オプションにより異なります。正確な仕様はメーカーへお問い合わせください。
スペック比較
複数の機種が掲載している項目を並べています。
| 項目 | Teradyne（テラダイン）ETS-800 | Teradyne（テラダイン）Photon 100 | CohuDiamondx DxV | アドバンテストV93000 EXA Scale | アドバンテストT6391 |
|---|---|---|---|---|---|
| 対応デバイス | 車載 SoC・PMIC・汎用アナログ／ミックスドシグナル | — | 車載・産業・コンピューティング向けミックスドシグナル IC | 先端デジタル IC・パワー／アナログ・ミックスドシグナル IC | — |
| システム構成 | マルチセクター構成（最大 4 セクター・1,024 サイト） | — | 高スループットスロット 5 | カード差し替え式（Pin Scale 5000・XPS256・XPS128+HV など） | — |
| 特徴 | 並列テスト効率 99% 超 | — | 192ch 汎用デジタル・6.4 Gbps 高速シリアル・72ch VI・24 bit コンバータ計測 | Xtreme Regulation による電圧／電流モードの高速切替 | — |
| 主要用途 | 車載品質の多数個同時測定 | — | ADC／DAC・電源 IC の量産テスト | SoC・電源 IC の量産テスト | — |
| 対象 | — | シリコンフォトニクス・コパッケージドオプティクス | — | — | ディスプレイドライバ IC（TDDI・AR/VR 向けなど） |
1機種だけが掲載している項目（4件）
| ベース | — | UltraFLEXplus＋光・電気計測器 | — | — | — |
|---|---|---|---|---|---|
| 試験工程 | — | ウェーハ（片面・両面）・光エンジン・CPO モジュール | — | — | — |
| チャンネル | — | — | — | — | 最大 3,584（LCD テスト） |
| 実績 | — | — | — | — | T6300 シリーズで 3,700 台以上 |
※ スペックは各メーカーの公開情報に基づく参考値です。メーカーが公表していない項目は「—」としています。正確な仕様はメーカーへお問い合わせください。
主な用途
- •スマートフォン・テレビ用 DDI の試験
- •AR/VR 向け DDI
掲載カテゴリ
T6391は次の装置カテゴリで他社製品と並べて掲載しています。
メーカー
混在型テストシステムのほかの製品
アドバンテストのほかの製品
V93000 EXA Scale（ロジックテストシステム）T5503HS2（メモリテストシステム）T5851／T5851ES（メモリテストシステム）MASK MVM-SEM® E3650（マスク寸法・平面度測定装置）T2000（最終テスト装置）M6242（テストハンドラ）（テストハンドラ）V93000 パワー・アナログソリューション（アナログ・リニアテストシステム）T5801（メモリテストシステム）T5835（メモリテストシステム）T5830（メモリテストシステム）T5833（メモリテストシステム）T5511（メモリテストシステム）T5221（メモリテストシステム）T5230（メモリテストシステム）H5620（メモリテストシステム）B6700 シリーズ（バーンインシステム）EVA100（アナログ・リニアテストシステム）EXAVIS（パワー半導体）MT100／MT200（パワー半導体テストシステム）（パワー半導体）M5241（テストハンドラ）（テストハンドラ）M4841（テストハンドラ）（テストハンドラ）M4872（テストハンドラ）（テストハンドラ）M4173（テストハンドラ）（テストハンドラ）HA7200（温度・圧力ユニット）（MEMS）HA7300（Stimulus Test Cell）（MEMS）HA1200（ダイレベルプローバ）（ウェハプローバー）7038（システムレベルテスト）（最終テスト装置）MASK MVM-SEM® E3640（マスク寸法・平面度測定装置）MASK CD-SEM E3660（マスク寸法・平面度測定装置）MASK DR-SEM E5620（マスク検査装置）
関連用語
出典・確認した公開情報
最終確認日：2026-10-07