烘烤・UV 固化設備是什麼
烘烤・UV 固化設備是以加熱或紫外線照射使塗佈膜硬化、穩定化的設備。在光阻製程中,以預烤(prebake)去除溶劑,以曝後烤(PEB)推進化學增幅反應,再以硬烤(postbake)提高抗蝕刻性。對聚醯亞胺或 Low-k 膜則以 UV 固化推進交聯,塑造機械強度與介電常數。決定膜質的不只是溫度絕對值,升降溫曲線與面內均勻性同樣關鍵,因此加熱板的溫度分布管理是設備性能的核心。
重點整理
以預烤・PEB・硬烤分階段塑造膜的狀態
UV 固化用於聚醯亞胺或 Low-k 膜的交聯・低介電常數化
比起溫度絕對值,升降溫曲線與面內均勻性更具影響
加熱板的溫度分布管理是設備性能的核心
相關用語
比較文章
- EUV曝光機與DUV曝光機的差異兩者都是將電路圖形轉印到光阻上的曝光機,但光源波長與設備構成根本不同。EUV以13.5nm的極紫外光,可透過單次曝光實現微縮,但必須採用真空與反射式光學。DUV…
- High-NA EUV與傳統EUV的差異(NA=0.55 vs NA=0.33)EUV曝光機目前分為「傳統EUV(NA=0.33,ASML的NXE系列)」與「High-NA EUV(NA=0.55,ASML的EXE系列)」2個世代。High…
- ArF曝光與KrF曝光的差異(DUV曝光機比較)ArF與KrF都是以DUV(深紫外光)準分子雷射為光源的微影設備,但光源波長根本不同。ArF(氟化氬)為193nm,搭配浸潤式曝光(ArFi:以純水將NA延伸到…
- 單一圖案化與多重圖案化的差異曝光機的解析度有物理上的極限(繞射極限),為了實現以1次曝光無法直接形成的微細圖形而開發的就是多重圖案化技術。藉由SADP(自對準雙重圖案化)與SAQP(自對準…
- 奈米壓印與EUV的差異(次世代微影比較)奈米壓印微影(NIL)與EUV曝光同為實現半導體製造微縮的微影技術,但圖形轉印的原理根本不同。EUV是使用13.5nm光的最先進光學微影,實質上由艾司摩爾(AS…
- 正型光阻與負型光阻的差異(光阻比較)光阻是經曝光後溶解特性會改變的感光材料。正型光阻的曝光區會溶於顯影液(光罩透光部以外的區域留下成為圖形),負型光阻則是曝光區硬化留下、未曝光區溶解。解析度優異的…
曝光機的其他分類
塗佈顯影機
塗佈顯影機(Coater/Developer)是在微影製程中進行光阻塗佈(coating)與曝光後顯影(develop)的一體化設備。
DUV 曝光機DUV 曝光機(Deep Ultraviolet Lithography)是以 ArF 準分子雷射(193nm)或 KrF 準分子雷射(248nm)為光源的曝光設備。
電子束直寫設備電子束直寫設備是不使用光罩,以電子束直接在晶圓上描繪圖案的曝光設備。
EUV 曝光機EUV 曝光機(Extreme Ultraviolet Lithography)是使用波長 13.5nm 的極紫外光,將超微細電路圖案轉印到晶圓上的曝光設備。
i-line 步進機i-line 步進機(i-line Stepper)是以汞燈 i-line(波長 365nm)為光源的曝光設備,目前仍廣泛用於 0.18μm 以上成熟節點的半導體製造。
雷射直寫設備(LDI)雷射直寫設備(LDI/無光罩曝光設備)是不透過光罩,以雷射光掃描描繪圖案的曝光設備。
光罩對準曝光機光罩對準曝光機(Mask Aligner)是讓光罩與晶圓直接相對,以等倍一次轉印圖案的曝光設備。
奈米壓印微影(NIL)奈米壓印微影(NIL:Nanoimprint Lithography)是將光罩(模板)上的奈米結構圖案直接壓在紫外線硬化樹脂等材料上以轉印圖案的微影技術。