ワイヤプル試験(プルテスト)とは

Wire Pull Test

最終更新:2026-10-03・故障解析装置・ワイヤボンダー|用語集のExcel・PDF版をダウンロード

ワイヤプル試験(プルテスト)とは?

ワイヤプル試験とは、ワイヤボンディングしたワイヤのループにフックを掛けて引っ張り、破断時の力(プル強度)と破断モードを調べる接合品質の試験です。ボールリフトやステッチリフトなど接合部が剥がれる破断は接合不良を示します。MIL-STD-883 Method 2011に規定され、ボール接合の評価はシェア試験と組み合わせます。

定義・解説

ワイヤプル試験とは、ワイヤボンディングしたワイヤのループの下にフック(かぎ状の治具)を掛けて上に引っ張り、ワイヤが切れる・剥がれるときの力(プル強度)と壊れ方を調べる試験です。プルテストとも呼び、ワイヤボンディングの接合の品質を管理する最も基本的な試験です。専用の装置であるボンドテスターを使って行います。

評価では、破断したときの力の値に加えて、どこで壊れたか(破断モード)を記録します。代表的な破断モードは、チップ側の接合部が剥がれるボールリフト、ボールの付け根のワイヤが切れるネック切れ、ワイヤの途中が切れるワイヤ切れ、リード側の接合部の付け根が切れるステッチ切れ、リード側の接合部が剥がれるステッチリフトなどです。ワイヤ自体が途中やネックで切れる場合は接合が十分に強いことを示し、接合部が剥がれる場合は接合条件や表面の汚れに問題があると判断します。試験方法と、ワイヤの太さごとの最小強度は、米国の軍用規格MIL-STD-883(Method 2011)などで定められています。

プル強度はフックを掛ける位置やループの形によって変わるため、フックの位置を一定にして比較します。ワイヤプル試験はワイヤを壊す破壊試験が基本ですが、決められた力まで引っ張って異常がないことを確かめる非破壊プル試験もあり、高信頼性の製品の全数検査などに使われます。チップ側のボール接合部の強さは、ワイヤプル試験だけでは分かりにくいため、ボールを横から押して剥がすシェア試験と組み合わせて評価します。

よくある質問(FAQ)

ワイヤプル試験の破断モードから何がわかりますか?▾
ワイヤが途中やボールの付け根で切れた場合は、接合部がワイヤより強く、接合が良好であることを示します。チップ側のボールやリード側の接合部が剥がれた場合は、接合の条件や接合面の汚れ、金属間化合物の形成不足などの問題が疑われ、ボンディング条件の見直しにつなげます。
ワイヤプル試験とシェア試験の違いは何ですか?▾
ワイヤプル試験はワイヤを上に引っ張り、ワイヤと両端の接合部を含めた全体の強さを調べます。シェア試験はボールや接合部を横から押して剥がし、その接合部そのものの強さを調べます。ボール接合の良し悪しはプル試験では分かりにくいため、両方を組み合わせて評価します。

設備の製造メーカー

Nordson米国

精密ディスペンシング・封止・接合・検査装置の総合メーカー。半導体後工程のフラックス塗布、ポッティング、AOI検…

Kulicke & Soffa米国

半導体パッケージング装置の世界的リーダー。ワイヤーボンディング、ダイボンディング、先端パッケージング装置で圧倒…

関連カテゴリ

関連用語

同じトピックの用語

パッケージング・テスト装置・信頼性・劣化メカニズム のトピックで関連する用語です。

同じトピックの企業

DISCO日本アドバンテスト日本エスペック日本Teradyne(テラダイン)米国Aehr Test Systems米国ASMPT香港

比較・違いを学ぶ

TSVとワイヤーボンドの違い|接続密度・帯域幅・コストを比較
TSV(Through Silicon Via、シリコン貫通電極)とワイヤーボンディングはともに半導体チップと外部を電気接続する後工程技術ですが、接続方式・密度…
→
ウェハテストと最終テストの違い(半導体テスト工程比較)
ウェハテスト(Wafer Test / CP:Circuit Probe)はウェハ状態のままプローバーで各ダイの電気特性を測定し、不良ダイを封止前に弾く工程です…
→
HTOLとバーンインの違い
どちらも高温で電圧をかけて動作させる試験のため混同されがちですが、位置づけはまったく違います。片方は製品の選別工程であり、もう片方は設計・プロセスの信頼性を認定…
→
ハイブリッドボンディングとフリップチップボンディングの違い
どちらもダイとダイ、またはダイと基板を電気的に接続する実装技術ですが、接合メカニズムと達成できる接続密度が根本的に異なります。フリップチップははんだバンプ(直径…
→
ATPGとBISTの違い(テストパターンをどこで作るか)
どちらもDFT(テスト容易化設計)の枠組みに属する技術ですが、テストの実行主体が外にあるか内にあるかという点で対照的です。実際のSoCでは両者を組み合わせ、メモ…
→
トランスファーモールドとコンプレッションモールドの違い
半導体パッケージの封止(モールド)工程には、金型内にEMC(エポキシモールドコンパウンド)を注入するトランスファーモールドと、金型内にEMCを直接充填・加圧する…
→
← 用語集に戻る用語集をExcel・PDFで使う →