CMP後洗浄装置メーカー4社

CMP後洗浄装置は、研磨直後のウェハに残るスラリー粒子・研磨屑・金属イオンを除去する専用の洗浄装置です。CMPはスラリーを撒きながら削る工程であるため、直後のウェハ表面は工程中で最も汚れた状態にあり、ここで残った粒子は次工程で欠陥として顕在化します。PVAブラシによるスクラブ洗浄、メガソニック、専用の洗浄薬液を組み合わせ、銅配線の腐食を防ぐ防食剤を使いながら短時間で仕上げます。CMP装置に一体化されたインライン構成が一般的です。

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主要特徴

研磨直後に残るスラリー粒子・研磨屑・金属イオンを除去する
CMP直後は工程中で最も表面が汚れた状態にある
ブラシ洗浄・メガソニック・専用薬液を組み合わせる
銅配線の腐食を防ぐ防食剤の使用が前提になる

スペック比較

複数の機種が掲載している項目を並べています。

洗浄薬液・ブラシ:2機種の比較

項目EntegrisPlanarClean® AGEntegrisPlanarcore® PVA ブラシ
種類CMP 後洗浄液(水系配合液)PVA ブラシ
対応材料Cu 配線(先端 Cu プロセス)CMP 後ウェーハ全般
主要用途バリア CMP 後の洗浄と腐食防止CMP 後のブラシ洗浄

※ スペックは各メーカーの公開情報に基づく参考値です。メーカーが公表していない項目は「—」としています。正確な仕様はメーカーへお問い合わせください。

代表製品・スペック

製品写真
Entegris

PlanarClean® AG

先端の Cu 系 CMP 後洗浄向けの配合洗浄液。Cu・Co・W を1ステップで洗浄し、下地膜を保護する。

種類CMP 後洗浄液(水系配合液)
対応材料Cu 配線(先端 Cu プロセス)
主要用途バリア CMP 後の洗浄と腐食防止
製品写真
Entegris

Planarcore® PVA ブラシ

CMP 後のウェーハ洗浄に使う PVA ブラシ。ウェーハ間のばらつきを抑える。

種類PVA ブラシ
対応材料CMP 後ウェーハ全般
主要用途CMP 後のブラシ洗浄

※ スペックは公開情報に基づく参考値です。正確な仕様はメーカーへお問い合わせください。

メーカー

4社の主要メーカー

SCREENホールディングス日本

半導体洗浄装置の世界的リーダー。表面処理、ダイレクト描画、画像処理の3大コア技術で、ナノレベルの高精度加工を実現。

洗浄装置
ウェーハ洗浄システム
塗布現像装置
コータ/デベロッパ
検査装置
検査システム計測システム
  • •洗浄装置で世界トップシェア
  • •表面処理、ダイレクト描画、画像処理の3大コア技術
会社詳細
荏原製作所日本

CMP(化学機械研磨)装置と半導体製造用真空ポンプ・除害装置の大手。ポンプ・精密機械・環境事業を軸に、半導体製造インフラを幅広く支える。

CMP装置
FREX(300mm CMP)F-REX(先端CMP)
真空ポンプ
EV-Aシリーズ(ドライ真空)除害装置
  • •CMPシステムで世界シェア上位。前工程の平坦化プロセスに不可欠
  • •ドライ真空ポンプ・スクラバーでクリーンルームの排気・除害を担う
会社詳細
Veeco Instruments米国

MOCVD・MBE・ALDなど薄膜エピタキシャル成長装置の専業メーカー。LED、化合物半導体、先端ロジック向けの精密成膜技術を提供。

MOCVD装置
EPIKTurboDisc
MBE装置
GENxcelシリーズ
ALD装置
FijiFiji G2
  • •MOCVD装置でグローバルトップシェア
  • •MBE・ALDを含む多様な薄膜成長技術ポートフォリオ
会社詳細
Entegris米国

半導体材料インテグリティ管理の専業企業。ウェハキャリア(FOUP)・CMPスラリー・超純水フィルタ・ガス精製器など汚染制御製品でNo.1クラスのシェア。

CMPスラリー・パッド
Optima CMPスラリー研磨パッド
フィルタ・精製装置
超純水フィルタガス精製器
ウェハ搬送材料
FOUPウェハシッパー
  • •半導体用CMPスラリー・研磨材料のグローバルトップ(CMC Materials統合後)
  • •超純水・薬液フィルタで世界最高水準の汚染管理
会社詳細

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比較・違いを学ぶ

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