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SEMICON Japan 2026で押さえたい技術キーワード30
2026年12月9日(水)〜11日(金)に開かれるSEMICON Japan 2026の展示やセミナーでよく出る技術用語を、分野別にまとめました。気になった語は用語ページで詳しく読めます。
01先端パッケージング・チップレット
併催のAdvanced Packaging and Chiplet Summitの中心テーマ。AI向けのGPUとHBMを1つのパッケージにまとめる技術です。
- チップレットチップレットとは、大型の単一チップとして作る代わりに、機能ブロックごとに小さなダイを個別製造し、先進パッケージングで2.5Dまたは3Dに統合する設計アーキテクチャです。
- 先進パッケージング先進パッケージングとは、複数のダイを高密度・高精度に集積することで、単一チップでは達成できない性能・機能・コストを実現する後工程技術群の総称です。
- 2.5Dパッケージング2.5Dパッケージングとは、複数の半導体ダイを1枚の基板上に垂直積層(3D)するのではなく…
- CoWoS(Chip on Wafer on Substrate)CoWoS(Chip on Wafer on Substrate)は、TSMCが開発・提供する2.5D先進パッケージング技術です。
- ハイブリッドボンディングハイブリッドボンディングとは、銅(Cu)の金属パッドと酸化シリコン(SiO₂)の誘電体を同時に直接接合し、はんだバンプを使わずにチップを積層する技術です。
- HBM(高帯域幅メモリ)HBM(広帯域幅メモリ)とは、複数のDRAMダイをTSV(シリコン貫通電極)で垂直に積層し、極めて広いバス幅で接続する3次元メモリです。
- TSV(貫通シリコンビア)TSV(シリコン貫通電極)とは、シリコンウェハやダイを垂直に貫通する導電ビアを形成し、積層した複数のダイを最短距離で電気接続する技術です。
- ガラスコア基板ガラスコア基板とは、パッケージ基板のコア材料として有機材料(ABF:味の素ビルドアップフィルム)の代わりにガラスを使用するパッケージング基板です。
- PLP(パネルレベルパッケージング)PLP(Panel-Level Packaging:パネルレベルパッケージング)とは、半導体の後工程パッケージングを300mm円形ウェハではなく…
- UCIeUCIe(Universal Chiplet Interconnect Express)とは…
02微細化・前工程
2nm世代以降のトランジスタと露光の技術。装置・材料メーカーの展示の中心です。
- High-NA EUV露光High-NA EUV露光(High Numerical Aperture EUV Lithography)は…
- EUVレジストEUVレジスト(EUV Resist)は、EUV(極端紫外線)露光装置を使った半導体リソグラフィ工程において…
- EUVペリクルEUVペリクル(EUV Pellicle)とは、EUV(極端紫外線)リソグラフィー用フォトマスクを異物汚染から保護するために…
- GAA(Gate-All-Around)GAA(Gate-All-Around)は、トランジスタのゲート電極がチャネル(電流路)を四方向(全周)から包囲する立体的なトランジスタ構造です。
- CFET(相補型FET)CFET(Complementary FET:相補型電界効果トランジスタ)は、NチャネルFET(NFET)とPチャネルFET(PFET)を垂直方向に積層した3次元トランジスタ構造…
- BSPD(裏面電源配電ネットワーク)BSPD(Backside Power Delivery Network)は、半導体チップのウェハ裏面(バックサイド)から電源・グラウンド配線を供給する技術です。
- 原子層エッチング(ALE)原子層エッチング(ALE:Atomic Layer Etching)とは、表面の原子を1原子層ずつ精密に除去するエッチング技術です。
- 3D NAND3D NAND(3D NAND Flash)は、フラッシュメモリセル(NAND型)を平面ではなく垂直方向(Z軸方向)に多層積層した構造のNAND型フラッシュメモリです。
03計測・検査・テスト
併催のMetrology & Inspection Summitで扱う分野。微細化と積層で、測る・調べる工程の比重が増えています。
- CD-SEMCD-SEMとは、電子ビームで回路パターンを走査し、線幅(Critical Dimension)や形状をナノメートル精度で測定する専用の走査電子顕微鏡です。
- オーバーレイオーバーレイとは、多層露光において、異なる工程で形成したパターン層同士の重ね合わせ位置のずれ(位置合わせ誤差)を指します。
- 欠陥検査欠陥検査(Defect Inspection)は、半導体ウェハの製造工程において、ウェハ表面や回路パターン上のパーティクル(微細な異物)・スクラッチ・パターン欠陥…
- プローブカードプローブカード(Probe Card)とは、ウェーハ上に形成された半導体チップの電極パッドに極細の金属プローブ(針)を接触させ、電気的特性を検査するためのインタフェース治具である。
- ATE(自動テスト)ATE(Automated Test Equipment:自動テスト装置)は、半導体チップの電気的特性・機能・性能を自動的かつ高速に検査する装置です。
04AI・光電融合・パワー半導体
SEMIがエマージング技術・アプリケーションとして挙げる分野。
- AIアクセラレータAIアクセラレータとは、機械学習・ディープラーニングの学習(Training)および推論(Inference)処理を高速…
- シリコンフォトニクスシリコンフォトニクス(Silicon Photonics)とは、シリコンや関連材料を用いて光導波路・変調器…
- 光電融合光電融合とは、電気で信号を処理する半導体チップと、光で信号を送る回路をできるだけ近くで一体にし、データの伝送を電気から光に置き換えていく技術の総称です。
- GaN(窒化ガリウム)GaN(窒化ガリウム、Gallium Nitride)は、ガリウム(Ga)と窒素(N)で構成されるIII-V族化合物半導体です。
- パワー半導体パワー半導体(Power Semiconductor)は、電力の変換・制御・整流を行うために設計された半導体デバイスの総称です。
05業界団体
主催のSEMIと、日本の装置メーカーの団体SEAJ。市場統計の出どころとして会場でもよく名前が出ます。
- SEMI(国際半導体製造装置材料協会)SEMIとは、半導体の製造装置や材料の企業が加盟する国際的な業界団体で、1970年に米国で設立されました。
- SEAJ(日本半導体製造装置協会)SEAJ(日本半導体製造装置協会)とは、半導体製造装置やFPD製造装置のメーカーなどが加盟する日本の業界団体で、1985年に設立されました。
06あわせて読む
この30語は、出展企業の一覧とあわせて来場ガイドPDF(無料)にも収録しています。