Lam Research/CVD装置

ALTUS®(W/Mo の CVD・ALD)

CVD と ALD を組み合わせ、タングステンやモリブデンのコンフォーマルな膜を成膜する Lam の主力メタル成膜装置。

ALTUSとは

ALTUS は、Lam Research の市場をリードするメタル成膜装置です。CVD と ALD の技術を組み合わせ、先端のメタライゼーションに必要な非常にコンフォーマルな膜を成膜します。

タングステンはコンタクト、ビア、プラグなどの導電部に使われますが、ナノスケールでは従来の CVD のせり出しで完全に埋めきれなくなっています。ALTUS は先進の ALD 埋め込み技術で対応します。モリブデンは ALD でより良く埋め込めるほか、フッ素を含まないハロゲン化物の原料を使えば、一部のタングステン用途で起きる絶縁膜の損傷を避けられます。

4 つのステーションを持つモジュールで、ライナーとバルクを異なる温度で逐次成膜できます。高温の真空吸着セラミック台で反りを管理し、裏面への成膜もありません。サブファブの昇華キャビネットで原料を供給し、ACE による統合クリーンも備えます。

主な特長

  • •CVD と ALD の組み合わせ
  • •クアッドステーションで多温度の逐次成膜
  • •熱/プラズマの Mo ALD
  • •反り管理のセラミック台

主な仕様

方式CVD/ALD(クアッドステーションモジュール)
膜種タングステン・モリブデン
特徴多温度の逐次成膜・熱/プラズマ Mo ALD・ACE 統合クリーン

※ メーカーの公開情報に基づく参考値です。構成・オプションにより異なります。正確な仕様はメーカーへお問い合わせください。

スペック比較

複数の機種が掲載している項目を並べています。

項目Applied MaterialsProducer® XP Precision® CVDApplied MaterialsProducer® XP Precision® Pioneer® CVDApplied MaterialsCentura® DXZ CVDApplied MaterialsCentura® Ultima HDP CVD®Applied MaterialsCentura™ iSprint™ SSW ALD/CVDApplied MaterialsEndura™ CuBS Volta™ Ruthenium CVDApplied MaterialsEndura® Volta® Cobalt CVDApplied MaterialsEndura® Volta® Selective W CVDApplied MaterialsEndura® Volta® W CVDApplied MaterialsProducer® CVDApplied MaterialsProducer® Eterna® FCVD™Applied MaterialsProducer® HARP®Applied MaterialsProducer® XP Precision® Draco™ CVD東京エレクトロン(TEL)Triase+™ W(枚葉式W-CVD)東京エレクトロン(TEL)Triase+™ EX-II™ TiN東京エレクトロン(TEL)Triase+™ Ti/TiN東京エレクトロン(TEL)Episode™ 1東京エレクトロン(TEL)Episode™ 2 DMRLam ResearchVECTOR®(PECVD)Lam ResearchALTUS®(W/Mo の CVD・ALD)Lam ResearchSPEED®(HDP-CVD)Kokusai Electric(国際電気)QUIXACE®-II(ラージバッチ成膜装置)ULVAC(アルバック)CME-200E(PE-CVD)
方式CVD(Producer プラットフォーム・Twin Chamber)CVD(高密度カーボンハードマスク)—高密度プラズマ CVDALD/CVD(シーム抑制タングステン)CVD ルテニウム(CuBS 統合材料ソリューション)CVD コバルト(ライナー+選択キャップ)表面処理+選択タングステン CVDCVD(W-カーボン膜+バルク W)—流動性 CVD(Flowable CVD)熱 CVD(オゾン/TEOS・非プラズマ)CVD(ハードマスク)枚葉式 CVD(SFD 核付け層+通常膜、ランプ加熱)枚葉 ASFD(Advanced Sequential Flow Deposition)枚葉 CVD(SFD TiN・HP Ti もラインアップ)枚葉成膜プラットフォーム2 枚同時搬送・同時成膜(DMR:Duo Matched Reactor)PECVD(クアッドステーションモジュール)CVD/ALD(クアッドステーションモジュール)高密度プラズマ CVD(成膜+その場エッチング)ラージバッチ縦型炉PE-CVD(27.12 MHz 高密度プラズマ、トレイ搬送)
主要用途3D NAND の交互積層・DRAM の高アスペクト比加工用膜——STI・PMD・ILD・IMD・パッシベーションロジック・メモリのコンタクト埋め込み———ロジックのコンタクト・MOL・メタルゲート埋め込み——STI・PMD の埋め込みDRAM のストレージキャパシタ形成コンタクトプラグ・ビアフィルコンタクトバリア・キャパシタ電極・ワードラインバリア・メタルゲートコンタクト工程先端ロジックのコンタクト(プリクリーン・CVD Ti)キャパシタ電極・ワードライン TiN・バリアメタル層間絶縁膜・ハードマスク・ウェーハ応力管理膜—STI・PMD・ILD・IMD・パッシベーション—パワーデバイス・LED・LD・MEMS
対応ウェハ径300 mm—150/200 mm(SiC ウェーハにも対応)200/300 mm—————150/200/300 mm(SiC ウェーハにも対応)———300 mm———————300 mm—
特徴—先端のエッチング化学に強く側壁の均一性が高い——開口部の成長を抑える処理で底から W を成長——————ひずみ誘起膜で駆動電流・保持時間を改善———————多温度の逐次成膜・熱/プラズマ Mo ALD・ACE 統合クリーン—最大 1.25 倍のロット処理(同社比)・深溝への均一成膜—
膜種——TEOS・シラン系酸化膜・窒化膜・Low-k など——————TEOS・シラン系酸化膜・窒化膜など————TiN(Plus HT・TiON もラインアップ)Ti・TiN———タングステン・モリブデン———
対象膜3D NAND 積層膜・Saphira APF などのハードマスク————————————W(タングステン)————ハードマスク・反射防止膜・パッシベーション・3D NAND 積層膜———SiO₂・SiNx・SiON・a-Si・TEOS-SiO₂
効果——————EM 性能を 1 桁改善・選択比 100:1 超ライナー/核生成層を省きコンタクト抵抗を低減ライナー抵抗率を TiN 比 70% 以上低減———選択比を従来の DRAM キャパシタ用比 30% 以上向上——————————
構成—————————Twin Chamber(同時に最大 6 枚)——————最大 8 プロセスモジュール(OPTCURE・ORTAS)1〜4 チャンバー—————
対象世代—————3nm 以降————20nm 以下————————————
シリーズ構成—————————————Triase+ EX-II TiN/Ti/TiN/W/SPAi————VECTOR/TEOS/AHM/MD/Strata/DT/TEOS 3D————
1機種だけが掲載している項目(9件)
組み合わせ—Sculpta・Sym3 Y Magnum と共同最適化—————————————————————
スループット——PE TEOS・プラズマシランで最大 80 wph————————————————————
ライナー—————RuCo 2 元系・20Å 未満—————————————————
膜厚——————20Å 未満————————————————
対象———————MOL(ミドルオブライン)コンタクト———————————————
埋め込み性能——————————アスペクト比 30:1 まで————————————
ラインアップ————————————————————SPEED NExT・SPEED Max——
処理—————————————————————CVD 膜・酸化膜形成、酸化・拡散・アニール—
対応基板——————————————————————200 mm 角(CME-400E は 300×400 mm、CME-500E は 500 mm 角)

※ スペックは各メーカーの公開情報に基づく参考値です。メーカーが公表していない項目は「—」としています。正確な仕様はメーカーへお問い合わせください。

主な用途

  • •コンタクト・ビアの W 埋め込み
  • •Mo メタライゼーション
  • •3D NAND のワード線

掲載カテゴリ

ALTUSは次の装置カテゴリで他社製品と並べて掲載しています。

メーカー

Lam Research

エッチング装置の世界的リーダー。約39%の市場シェアを持ち、原子層エッチング(ALE)技術で先端3Dチップアーキテクチャを支える。

Lam Research の企業情報 →メーカー公式の製品ページ ↗

CVD装置のほかの製品

Lam Researchのほかの製品

Kiyo®(コンダクタエッチング)(ドライエッチング装置)Flex®(誘電体エッチング)(酸化膜エッチャー)Versys® Metal(金属エッチャー)Sense.i®(材料別エッチャー)Selective Etch(Argos®/Prevos®/Selis®)(ドライ洗浄装置)Striker®(枚葉ALD)(ALD装置)VECTOR®(PECVD)(CVD装置)SABRE® 3D(めっき装置(電解銅めっき))Syndion®(深堀りシリコンエッチング)(CMOSイメージセンサー製造装置)SABRE®(銅 ECD)(めっき装置(電解銅めっき))Coronus®(ベベルエッチング・成膜)(ドライエッチング装置)EOS®(ウェット洗浄)(シングルウェハ洗浄装置)DV-Prime®/Da Vinci®(シングルウェハ洗浄装置)SP Series(SP203L/SP223/SP323)(ウェットエッチング装置)Akara®(ドライエッチング装置)Triton(枚葉めっき・ウェット処理)(ウェハレベルパッケージング)Kallisto(パネル ECD)(ウェハレベルパッケージング)Phoenix(パネル処理)(ウェハレベルパッケージング)SPEED®(HDP-CVD)(CVD装置)GAMMA®(ストリップ)(アッシング装置(レジスト灰化))SOLA®(UV 熱処理)(アニール炉)Vantex®(誘電体エッチング)(酸化膜エッチャー)Metior®(質量計測)(膜厚計測装置)Prestis™(AlScN PVD)(PVD装置)DSiE™(深堀りシリコンエッチング)(MEMS)SEMulator3D®(品質・歩留まり管理システム(YMS))Fabtex™ Yield Optimizer(品質・歩留まり管理システム(YMS))

関連用語

出典・確認した公開情報
最終確認日:2026-10-07
半導体製造装置の製品一覧へ →