ALTUS®(W/Mo の CVD・ALD)
CVD と ALD を組み合わせ、タングステンやモリブデンのコンフォーマルな膜を成膜する Lam の主力メタル成膜装置。
ALTUSとは
ALTUS は、Lam Research の市場をリードするメタル成膜装置です。CVD と ALD の技術を組み合わせ、先端のメタライゼーションに必要な非常にコンフォーマルな膜を成膜します。
タングステンはコンタクト、ビア、プラグなどの導電部に使われますが、ナノスケールでは従来の CVD のせり出しで完全に埋めきれなくなっています。ALTUS は先進の ALD 埋め込み技術で対応します。モリブデンは ALD でより良く埋め込めるほか、フッ素を含まないハロゲン化物の原料を使えば、一部のタングステン用途で起きる絶縁膜の損傷を避けられます。
4 つのステーションを持つモジュールで、ライナーとバルクを異なる温度で逐次成膜できます。高温の真空吸着セラミック台で反りを管理し、裏面への成膜もありません。サブファブの昇華キャビネットで原料を供給し、ACE による統合クリーンも備えます。
主な特長
- •CVD と ALD の組み合わせ
- •クアッドステーションで多温度の逐次成膜
- •熱/プラズマの Mo ALD
- •反り管理のセラミック台
主な仕様
| 方式 | CVD/ALD(クアッドステーションモジュール) |
|---|---|
| 膜種 | タングステン・モリブデン |
| 特徴 | 多温度の逐次成膜・熱/プラズマ Mo ALD・ACE 統合クリーン |
※ メーカーの公開情報に基づく参考値です。構成・オプションにより異なります。正確な仕様はメーカーへお問い合わせください。
スペック比較
複数の機種が掲載している項目を並べています。
| 項目 | Applied MaterialsProducer® XP Precision® CVD | Applied MaterialsProducer® XP Precision® Pioneer® CVD | Applied MaterialsCentura® DXZ CVD | Applied MaterialsCentura® Ultima HDP CVD® | Applied MaterialsCentura™ iSprint™ SSW ALD/CVD | Applied MaterialsEndura™ CuBS Volta™ Ruthenium CVD | Applied MaterialsEndura® Volta® Cobalt CVD | Applied MaterialsEndura® Volta® Selective W CVD | Applied MaterialsEndura® Volta® W CVD | Applied MaterialsProducer® CVD | Applied MaterialsProducer® Eterna® FCVD™ | Applied MaterialsProducer® HARP® | Applied MaterialsProducer® XP Precision® Draco™ CVD | 東京エレクトロン(TEL)Triase+™ W(枚葉式W-CVD) | 東京エレクトロン(TEL)Triase+™ EX-II™ TiN | 東京エレクトロン(TEL)Triase+™ Ti/TiN | 東京エレクトロン(TEL)Episode™ 1 | 東京エレクトロン(TEL)Episode™ 2 DMR | Lam ResearchVECTOR®(PECVD) | Lam ResearchALTUS®(W/Mo の CVD・ALD) | Lam ResearchSPEED®(HDP-CVD) | Kokusai Electric(国際電気)QUIXACE®-II(ラージバッチ成膜装置) | ULVAC(アルバック)CME-200E(PE-CVD) |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 方式 | CVD(Producer プラットフォーム・Twin Chamber) | CVD(高密度カーボンハードマスク) | — | 高密度プラズマ CVD | ALD/CVD(シーム抑制タングステン) | CVD ルテニウム(CuBS 統合材料ソリューション) | CVD コバルト(ライナー+選択キャップ) | 表面処理+選択タングステン CVD | CVD(W-カーボン膜+バルク W) | — | 流動性 CVD(Flowable CVD) | 熱 CVD(オゾン/TEOS・非プラズマ) | CVD(ハードマスク) | 枚葉式 CVD(SFD 核付け層+通常膜、ランプ加熱) | 枚葉 ASFD(Advanced Sequential Flow Deposition) | 枚葉 CVD(SFD TiN・HP Ti もラインアップ) | 枚葉成膜プラットフォーム | 2 枚同時搬送・同時成膜(DMR:Duo Matched Reactor) | PECVD(クアッドステーションモジュール) | CVD/ALD(クアッドステーションモジュール) | 高密度プラズマ CVD(成膜+その場エッチング) | ラージバッチ縦型炉 | PE-CVD(27.12 MHz 高密度プラズマ、トレイ搬送) |
| 主要用途 | 3D NAND の交互積層・DRAM の高アスペクト比加工用膜 | — | — | STI・PMD・ILD・IMD・パッシベーション | ロジック・メモリのコンタクト埋め込み | — | — | — | ロジックのコンタクト・MOL・メタルゲート埋め込み | — | — | STI・PMD の埋め込み | DRAM のストレージキャパシタ形成 | コンタクトプラグ・ビアフィル | コンタクトバリア・キャパシタ電極・ワードラインバリア・メタルゲート | コンタクト工程 | 先端ロジックのコンタクト(プリクリーン・CVD Ti) | キャパシタ電極・ワードライン TiN・バリアメタル | 層間絶縁膜・ハードマスク・ウェーハ応力管理膜 | — | STI・PMD・ILD・IMD・パッシベーション | — | パワーデバイス・LED・LD・MEMS |
| 対応ウェハ径 | 300 mm | — | 150/200 mm(SiC ウェーハにも対応) | 200/300 mm | — | — | — | — | — | 150/200/300 mm(SiC ウェーハにも対応) | — | — | — | 300 mm | — | — | — | — | — | — | — | 300 mm | — |
| 特徴 | — | 先端のエッチング化学に強く側壁の均一性が高い | — | — | 開口部の成長を抑える処理で底から W を成長 | — | — | — | — | — | — | ひずみ誘起膜で駆動電流・保持時間を改善 | — | — | — | — | — | — | — | 多温度の逐次成膜・熱/プラズマ Mo ALD・ACE 統合クリーン | — | 最大 1.25 倍のロット処理(同社比)・深溝への均一成膜 | — |
| 膜種 | — | — | TEOS・シラン系酸化膜・窒化膜・Low-k など | — | — | — | — | — | — | TEOS・シラン系酸化膜・窒化膜など | — | — | — | — | TiN(Plus HT・TiON もラインアップ) | Ti・TiN | — | — | — | タングステン・モリブデン | — | — | — |
| 対象膜 | 3D NAND 積層膜・Saphira APF などのハードマスク | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | W(タングステン) | — | — | — | — | ハードマスク・反射防止膜・パッシベーション・3D NAND 積層膜 | — | — | — | SiO₂・SiNx・SiON・a-Si・TEOS-SiO₂ |
| 効果 | — | — | — | — | — | — | EM 性能を 1 桁改善・選択比 100:1 超 | ライナー/核生成層を省きコンタクト抵抗を低減 | ライナー抵抗率を TiN 比 70% 以上低減 | — | — | — | 選択比を従来の DRAM キャパシタ用比 30% 以上向上 | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — |
| 構成 | — | — | — | — | — | — | — | — | — | Twin Chamber(同時に最大 6 枚) | — | — | — | — | — | — | 最大 8 プロセスモジュール(OPTCURE・ORTAS) | 1〜4 チャンバー | — | — | — | — | — |
| 対象世代 | — | — | — | — | — | 3nm 以降 | — | — | — | — | 20nm 以下 | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — |
| シリーズ構成 | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | Triase+ EX-II TiN/Ti/TiN/W/SPAi | — | — | — | — | VECTOR/TEOS/AHM/MD/Strata/DT/TEOS 3D | — | — | — | — |
1機種だけが掲載している項目(9件)
| 組み合わせ | — | Sculpta・Sym3 Y Magnum と共同最適化 | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| スループット | — | — | PE TEOS・プラズマシランで最大 80 wph | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — |
| ライナー | — | — | — | — | — | RuCo 2 元系・20Å 未満 | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — |
| 膜厚 | — | — | — | — | — | — | 20Å 未満 | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — |
| 対象 | — | — | — | — | — | — | — | MOL(ミドルオブライン)コンタクト | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — |
| 埋め込み性能 | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | アスペクト比 30:1 まで | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — |
| ラインアップ | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | SPEED NExT・SPEED Max | — | — |
| 処理 | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | CVD 膜・酸化膜形成、酸化・拡散・アニール | — |
| 対応基板 | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | — | 200 mm 角(CME-400E は 300×400 mm、CME-500E は 500 mm 角) |
※ スペックは各メーカーの公開情報に基づく参考値です。メーカーが公表していない項目は「—」としています。正確な仕様はメーカーへお問い合わせください。
主な用途
- •コンタクト・ビアの W 埋め込み
- •Mo メタライゼーション
- •3D NAND のワード線
掲載カテゴリ
ALTUSは次の装置カテゴリで他社製品と並べて掲載しています。
メーカー
Lam Research
エッチング装置の世界的リーダー。約39%の市場シェアを持ち、原子層エッチング(ALE)技術で先端3Dチップアーキテクチャを支える。
CVD装置のほかの製品
Producer® XP Precision® CVD(Applied Materials)Triase+™ W(枚葉式W-CVD)(東京エレクトロン(TEL))VECTOR®(PECVD)(Lam Research)QUIXACE®-II(ラージバッチ成膜装置)(Kokusai Electric(国際電気))CME-200E(PE-CVD)(ULVAC(アルバック))Producer® XP Precision® Pioneer® CVD(Applied Materials)Centura® DXZ CVD(Applied Materials)Centura® Ultima HDP CVD®(Applied Materials)Centura™ iSprint™ SSW ALD/CVD(Applied Materials)Endura™ CuBS Volta™ Ruthenium CVD(Applied Materials)Endura® Volta® Cobalt CVD(Applied Materials)Endura® Volta® Selective W CVD(Applied Materials)Endura® Volta® W CVD(Applied Materials)Producer® CVD(Applied Materials)Producer® Eterna® FCVD™(Applied Materials)Producer® HARP®(Applied Materials)Producer® XP Precision® Draco™ CVD(Applied Materials)SPEED®(HDP-CVD)(Lam Research)Triase+™ EX-II™ TiN(東京エレクトロン(TEL))Triase+™ Ti/TiN(東京エレクトロン(TEL))Episode™ 1(東京エレクトロン(TEL))Episode™ 2 DMR(東京エレクトロン(TEL))
Lam Researchのほかの製品
Kiyo®(コンダクタエッチング)(ドライエッチング装置)Flex®(誘電体エッチング)(酸化膜エッチャー)Versys® Metal(金属エッチャー)Sense.i®(材料別エッチャー)Selective Etch(Argos®/Prevos®/Selis®)(ドライ洗浄装置)Striker®(枚葉ALD)(ALD装置)VECTOR®(PECVD)(CVD装置)SABRE® 3D(めっき装置(電解銅めっき))Syndion®(深堀りシリコンエッチング)(CMOSイメージセンサー製造装置)SABRE®(銅 ECD)(めっき装置(電解銅めっき))Coronus®(ベベルエッチング・成膜)(ドライエッチング装置)EOS®(ウェット洗浄)(シングルウェハ洗浄装置)DV-Prime®/Da Vinci®(シングルウェハ洗浄装置)SP Series(SP203L/SP223/SP323)(ウェットエッチング装置)Akara®(ドライエッチング装置)Triton(枚葉めっき・ウェット処理)(ウェハレベルパッケージング)Kallisto(パネル ECD)(ウェハレベルパッケージング)Phoenix(パネル処理)(ウェハレベルパッケージング)SPEED®(HDP-CVD)(CVD装置)GAMMA®(ストリップ)(アッシング装置(レジスト灰化))SOLA®(UV 熱処理)(アニール炉)Vantex®(誘電体エッチング)(酸化膜エッチャー)Metior®(質量計測)(膜厚計測装置)Prestis™(AlScN PVD)(PVD装置)DSiE™(深堀りシリコンエッチング)(MEMS)SEMulator3D®(品質・歩留まり管理システム(YMS))Fabtex™ Yield Optimizer(品質・歩留まり管理システム(YMS))
関連用語
出典・確認した公開情報
最終確認日:2026-10-07