Akaraとは
Akara は、Lam Research の導体エッチング装置です。CFET のような新しいロジックトランジスタや、4F² や 3D DRAM などの新しいメモリ構造では、現在の最先端を超えるエッチング性能が求められます。
DirectDrive という固体プラズマ源を初めて採用し、複雑な 3D 構造を作るのに必要なプロセスの変化に、従来のプラズマ源より 100 倍以上速く応答します。独自のイオンエネルギー制御とプラズマのパルス化を組み合わせ、Å レベルの CD 均一性とウェーハ間の再現性を実現します。
量産で 3 万を超えるチャンバーが稼働している Kiyo の経験をもとに開発され、Kiyo に続く導体エッチングの新しい世代と位置づけられています。新しいプラズマ源と効率の高いエッチングで、チップ製造のエネルギー消費も減らします。Sense.i プラットフォームに搭載されます。
主な特長
- •固体プラズマ源 DirectDrive
- •応答速度が 100 倍以上
- •Å レベルの CD 均一性
- •Sense.i プラットフォーム
主な仕様
| 方式 | 導体エッチング(固体プラズマ源 DirectDrive) |
|---|---|
| 応答速度 | 従来のプラズマ源の 100 倍以上 |
| 主要用途 | CFET・3D DRAM・3D NAND |
※ メーカーの公開情報に基づく参考値です。構成・オプションにより異なります。正確な仕様はメーカーへお問い合わせください。
スペック比較
複数の機種が掲載している項目を並べています。
| 項目 | Lam ResearchKiyo®(コンダクタエッチング) | Lam ResearchCoronus®(ベベルエッチング・成膜) | Lam ResearchAkara® | Applied MaterialsCentris® Sym3® Y Etch | Applied MaterialsCentura™ Sculpta™ Pattern-Shaping System | Applied MaterialsProducer® Etch | 東京エレクトロン(TEL)Tactras™ | Plasma-Therm JapanVERSALINE® ICP | ULVAC(アルバック)NE-550EX(ドライエッチング装置) | ULVAC(アルバック)uGmni-200E(ドライエッチング装置) |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 方式 | 反応性イオンエッチング(RIE)、プラズマ ALE 対応 | プラズマベベルエッチング・ベベル成膜 | 導体エッチング(固体プラズマ源 DirectDrive) | プラズマエッチング(パルス RF 源・高コンダクタンスチャンバー) | パターンシェーピング(一方向の寸法変更) | 容量結合プラズマエッチング(Twin Chamber) | 反応性イオンエッチング(RIE) | ICP(誘導結合型プラズマ)エッチング、2 MHz 加熱 ICP 源 | 有磁場 ICP(ISM)・枚葉式・LL 室標準 | 有磁場 ICP(ISM・ISM-duo はオプション) |
| 主要用途 | STI・ソースドレイン・High-k/メタルゲート・FinFET・3D NAND | — | CFET・3D DRAM・3D NAND | 先端メモリ・ファウンドリロジックの FinFET・GAA 形成 | — | — | 高アスペクト比エッチング・マスク/絶縁膜エッチング・BEOL 絶縁膜 | パワーデバイス・フォトニクス・無線・MEMS・先端パッケージ | — | 化合物・パワーデバイス・メタル配線・強誘電体・磁性体 |
| 対象 | コンダクタ(Si・ポリSi・メタルゲートなど) | — | — | コンダクタ・EUV パターニング | 先端ロジックの重要パターニング層 | — | 絶縁膜・コンダクタ | III-V・II-VI 族、Si 系、絶縁膜、金属、圧電材料など | — | — |
| 主な技術 | Hydra(CD 均一性補正)・Corvus(ウェーハエッジのシース制御) | — | — | 独自コーティング・新型静電チャック・アクティブエッジ制御 | — | — | — | — | — | — |
| 構成 | — | — | — | — | — | 最大 3 Twin Chamber・2 FOUP のデュアルロボット | — | — | — | 1〜マルチチャンバー・アッシング室を追加可能 |
| 対応ウェハ径 | — | — | — | — | — | — | 300 mm | 50 ~ 200 mm(300 mm へ拡張可能) | — | — |
| チャンバー構成 | — | — | — | — | — | — | 最大 6 チャンバー(水平対向設計) | シングルウェーハ ロードロック(LL)/カセットクラスター(CX) | — | — |
1機種だけが掲載している項目(8件)
| シリーズ構成 | Versys Kiyo/Kiyo45/Kiyo C・E・F・G シリーズ | — | — | — | — | — | — | — | — | — |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| ラインアップ | — | Coronus/Coronus HP/Coronus DX | — | — | — | — | — | — | — | — |
| 特徴 | — | α カーボン膜を除去できる唯一のベベルクリーン製品 | — | — | — | — | — | — | — | — |
| 応答速度 | — | — | 従来のプラズマ源の 100 倍以上 | — | — | — | — | — | — | — |
| 効果 | — | — | — | — | パターニング工程の簡略化 | — | — | — | — | — |
| ウェットクリーン間隔 | — | — | — | — | — | 500 RF 時間以上 | — | — | — | — |
| 基板サイズ | — | — | — | — | — | — | — | — | 〜Φ200 mm | — |
| 均一性 | — | — | — | — | — | — | — | — | ±5% 以内(面内・面間) | — |
※ スペックは各メーカーの公開情報に基づく参考値です。メーカーが公表していない項目は「—」としています。正確な仕様はメーカーへお問い合わせください。
主な用途
- •CFET ロジック
- •3D DRAM のチャネル形成
- •3D NAND
掲載カテゴリ
Akaraは次の装置カテゴリで他社製品と並べて掲載しています。
メーカー
Lam Research
エッチング装置の世界的リーダー。約39%の市場シェアを持ち、原子層エッチング(ALE)技術で先端3Dチップアーキテクチャを支える。
ドライエッチング装置のほかの製品
Kiyo®(コンダクタエッチング)(Lam Research)Centris® Sym3® Y Etch(Applied Materials)Tactras™(東京エレクトロン(TEL))VERSALINE® ICP(Plasma-Therm Japan)Centura™ Sculpta™ Pattern-Shaping System(Applied Materials)Producer® Etch(Applied Materials)Coronus®(ベベルエッチング・成膜)(Lam Research)NE-550EX(ドライエッチング装置)(ULVAC(アルバック))uGmni-200E(ドライエッチング装置)(ULVAC(アルバック))
Lam Researchのほかの製品
Kiyo®(コンダクタエッチング)(ドライエッチング装置)Flex®(誘電体エッチング)(酸化膜エッチャー)Versys® Metal(金属エッチャー)Sense.i®(材料別エッチャー)Selective Etch(Argos®/Prevos®/Selis®)(ドライ洗浄装置)Striker®(枚葉ALD)(ALD装置)VECTOR®(PECVD)(CVD装置)SABRE® 3D(めっき装置(電解銅めっき))Syndion®(深堀りシリコンエッチング)(CMOSイメージセンサー製造装置)SABRE®(銅 ECD)(めっき装置(電解銅めっき))Coronus®(ベベルエッチング・成膜)(ドライエッチング装置)EOS®(ウェット洗浄)(シングルウェハ洗浄装置)DV-Prime®/Da Vinci®(シングルウェハ洗浄装置)SP Series(SP203L/SP223/SP323)(ウェットエッチング装置)Triton(枚葉めっき・ウェット処理)(ウェハレベルパッケージング)Kallisto(パネル ECD)(ウェハレベルパッケージング)Phoenix(パネル処理)(ウェハレベルパッケージング)ALTUS®(W/Mo の CVD・ALD)(CVD装置)SPEED®(HDP-CVD)(CVD装置)GAMMA®(ストリップ)(アッシング装置(レジスト灰化))SOLA®(UV 熱処理)(アニール炉)Vantex®(誘電体エッチング)(酸化膜エッチャー)Metior®(質量計測)(膜厚計測装置)Prestis™(AlScN PVD)(PVD装置)DSiE™(深堀りシリコンエッチング)(MEMS)SEMulator3D®(品質・歩留まり管理システム(YMS))Fabtex™ Yield Optimizer(品質・歩留まり管理システム(YMS))
関連用語
出典・確認した公開情報
最終確認日:2026-10-07