Lam Research/ドライエッチング装置

Akara®

固体プラズマ源 DirectDrive を初めて使った Lam の導体エッチング装置。CFET や 3D DRAM の形成を狙う。

Akaraとは

Akara は、Lam Research の導体エッチング装置です。CFET のような新しいロジックトランジスタや、4F² や 3D DRAM などの新しいメモリ構造では、現在の最先端を超えるエッチング性能が求められます。

DirectDrive という固体プラズマ源を初めて採用し、複雑な 3D 構造を作るのに必要なプロセスの変化に、従来のプラズマ源より 100 倍以上速く応答します。独自のイオンエネルギー制御とプラズマのパルス化を組み合わせ、Å レベルの CD 均一性とウェーハ間の再現性を実現します。

量産で 3 万を超えるチャンバーが稼働している Kiyo の経験をもとに開発され、Kiyo に続く導体エッチングの新しい世代と位置づけられています。新しいプラズマ源と効率の高いエッチングで、チップ製造のエネルギー消費も減らします。Sense.i プラットフォームに搭載されます。

主な特長

  • •固体プラズマ源 DirectDrive
  • •応答速度が 100 倍以上
  • •Å レベルの CD 均一性
  • •Sense.i プラットフォーム

主な仕様

方式導体エッチング(固体プラズマ源 DirectDrive)
応答速度従来のプラズマ源の 100 倍以上
主要用途CFET・3D DRAM・3D NAND

※ メーカーの公開情報に基づく参考値です。構成・オプションにより異なります。正確な仕様はメーカーへお問い合わせください。

スペック比較

複数の機種が掲載している項目を並べています。

項目Lam ResearchKiyo®(コンダクタエッチング)Lam ResearchCoronus®(ベベルエッチング・成膜)Lam ResearchAkara®Applied MaterialsCentris® Sym3® Y EtchApplied MaterialsCentura™ Sculpta™ Pattern-Shaping SystemApplied MaterialsProducer® Etch東京エレクトロン(TEL)Tactras™Plasma-Therm JapanVERSALINE® ICPULVAC(アルバック)NE-550EX(ドライエッチング装置)ULVAC(アルバック)uGmni-200E(ドライエッチング装置)
方式反応性イオンエッチング(RIE)、プラズマ ALE 対応プラズマベベルエッチング・ベベル成膜導体エッチング(固体プラズマ源 DirectDrive)プラズマエッチング(パルス RF 源・高コンダクタンスチャンバー)パターンシェーピング(一方向の寸法変更)容量結合プラズマエッチング(Twin Chamber)反応性イオンエッチング(RIE)ICP(誘導結合型プラズマ)エッチング、2 MHz 加熱 ICP 源有磁場 ICP(ISM)・枚葉式・LL 室標準有磁場 ICP(ISM・ISM-duo はオプション)
主要用途STI・ソースドレイン・High-k/メタルゲート・FinFET・3D NAND—CFET・3D DRAM・3D NAND先端メモリ・ファウンドリロジックの FinFET・GAA 形成——高アスペクト比エッチング・マスク/絶縁膜エッチング・BEOL 絶縁膜パワーデバイス・フォトニクス・無線・MEMS・先端パッケージ—化合物・パワーデバイス・メタル配線・強誘電体・磁性体
対象コンダクタ(Si・ポリSi・メタルゲートなど)——コンダクタ・EUV パターニング先端ロジックの重要パターニング層—絶縁膜・コンダクタIII-V・II-VI 族、Si 系、絶縁膜、金属、圧電材料など——
主な技術Hydra(CD 均一性補正)・Corvus(ウェーハエッジのシース制御)——独自コーティング・新型静電チャック・アクティブエッジ制御——————
構成—————最大 3 Twin Chamber・2 FOUP のデュアルロボット———1〜マルチチャンバー・アッシング室を追加可能
対応ウェハ径——————300 mm50 ~ 200 mm(300 mm へ拡張可能)——
チャンバー構成——————最大 6 チャンバー(水平対向設計)シングルウェーハ ロードロック(LL)/カセットクラスター(CX)——
1機種だけが掲載している項目(8件)
シリーズ構成Versys Kiyo/Kiyo45/Kiyo C・E・F・G シリーズ—————————
ラインアップ—Coronus/Coronus HP/Coronus DX————————
特徴—α カーボン膜を除去できる唯一のベベルクリーン製品————————
応答速度——従来のプラズマ源の 100 倍以上———————
効果————パターニング工程の簡略化—————
ウェットクリーン間隔—————500 RF 時間以上————
基板サイズ————————〜Φ200 mm—
均一性————————±5% 以内(面内・面間)—

※ スペックは各メーカーの公開情報に基づく参考値です。メーカーが公表していない項目は「—」としています。正確な仕様はメーカーへお問い合わせください。

主な用途

  • •CFET ロジック
  • •3D DRAM のチャネル形成
  • •3D NAND

掲載カテゴリ

Akaraは次の装置カテゴリで他社製品と並べて掲載しています。

メーカー

Lam Research

エッチング装置の世界的リーダー。約39%の市場シェアを持ち、原子層エッチング(ALE)技術で先端3Dチップアーキテクチャを支える。

Lam Research の企業情報 →メーカー公式の製品ページ ↗

ドライエッチング装置のほかの製品

Lam Researchのほかの製品

Kiyo®(コンダクタエッチング)(ドライエッチング装置)Flex®(誘電体エッチング)(酸化膜エッチャー)Versys® Metal(金属エッチャー)Sense.i®(材料別エッチャー)Selective Etch(Argos®/Prevos®/Selis®)(ドライ洗浄装置)Striker®(枚葉ALD)(ALD装置)VECTOR®(PECVD)(CVD装置)SABRE® 3D(めっき装置(電解銅めっき))Syndion®(深堀りシリコンエッチング)(CMOSイメージセンサー製造装置)SABRE®(銅 ECD)(めっき装置(電解銅めっき))Coronus®(ベベルエッチング・成膜)(ドライエッチング装置)EOS®(ウェット洗浄)(シングルウェハ洗浄装置)DV-Prime®/Da Vinci®(シングルウェハ洗浄装置)SP Series(SP203L/SP223/SP323)(ウェットエッチング装置)Triton(枚葉めっき・ウェット処理)(ウェハレベルパッケージング)Kallisto(パネル ECD)(ウェハレベルパッケージング)Phoenix(パネル処理)(ウェハレベルパッケージング)ALTUS®(W/Mo の CVD・ALD)(CVD装置)SPEED®(HDP-CVD)(CVD装置)GAMMA®(ストリップ)(アッシング装置(レジスト灰化))SOLA®(UV 熱処理)(アニール炉)Vantex®(誘電体エッチング)(酸化膜エッチャー)Metior®(質量計測)(膜厚計測装置)Prestis™(AlScN PVD)(PVD装置)DSiE™(深堀りシリコンエッチング)(MEMS)SEMulator3D®(品質・歩留まり管理システム(YMS))Fabtex™ Yield Optimizer(品質・歩留まり管理システム(YMS))

関連用語

出典・確認した公開情報
最終確認日:2026-10-07
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