最終更新 2026-10-19

OEEとは(総合設備効率)

Overall Equipment Effectiveness (OEE)

OEE(総合設備効率)とは、製造装置が本来の能力のうちどれだけを実際に良品の生産に使えているかを表す指標で、「時間稼働率×性能稼働率×良品率」で求めます。止まっている時間、遅く動いている時間、不良を作っている時間の3つのロスをまとめて評価できます。半導体ではSEMIの規格でも考え方が定められています。

目次7項目
  1. 定義・解説
  2. 図解
  3. よくある質問
  4. 設備の製造メーカー
  5. 関連用語
  6. 比較・違いを学ぶ
  7. 出典・参考資料

定義・解説

OEE(Overall Equipment Effectiveness:総合設備効率)とは、製造装置が、本来持っている能力のうちどれだけを実際に良品の生産に使えているかを、1つの割合で表す指標です。装置が止まっている時間、遅く動いている時間、不良品を作っている時間という3種類のロスをまとめて評価できるため、工場の生産性の改善の出発点として使われます。

OEEは「時間稼働率×性能稼働率×良品率」の掛け算で求めます。時間稼働率は、動かす予定の時間のうち実際に動いていた時間の割合で、故障や段取り替え、保守で止まった分が減ります。性能稼働率は、動いていた時間に本来の速さでどれだけ作れたかの割合で、短い停止や速度の低下で下がります。良品率は、作った製品のうち良品の割合です。たとえば3つが90%・95%・99%なら、OEEは約85%になります。

半導体の工場では、装置の状態を「生産中」「待機」「技術作業」「予定停止」「予定外停止」などに分ける考え方がSEMIの規格(SEMI E10)で決められており、OEEの考え方もSEMI E79で定められています。露光装置のように1台が非常に高価な装置では、OEEのわずかな改善が大きな投資の節約になります。装置からのデータをSECS/GEMやMESで集め、停止の原因を分析したり、予知保全で予定外の停止を減らしたりして改善します。

図解

時間稼働率、性能稼働率、良品率を掛け合わせてOEEを求める流れと計算例
半導体の装置の状態の分類はSEMI E10、OEEの考え方はSEMI E79で定められている。

よくある質問(FAQ)

OEEと稼働率の違いは何ですか?
稼働率は、主に装置が動いていた時間の割合を表します。OEEはそれに加えて、動いている間に本来の速さで作れていたか(性能稼働率)、作ったものが良品だったか(良品率)も掛け合わせた指標です。稼働率が高くても、速度が落ちていたり不良が多かったりすると、OEEは低くなります。
OEEはどのくらいあればよいのですか?
業種や装置によって大きく異なりますが、製造業の一般的な目安として85%前後が高い水準とされることがあります。半導体の工場では、工程の流れや製品の構成によって装置が待機する時間も多いため、絶対的な値よりも、ロスの内訳を見て改善の対象を決めることが重要です。

設備の製造メーカー

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比較・違いを学ぶ

出典・参考資料

  1. SEMI「SEMI E79 - Specification for Definition and Measurement of Equipment Productivity」(2026/10/19 確認)