Applied Materials/CVD装置

Endura® Volta® Cobalt CVD

銅配線を包む 20Å 未満のコバルトライナーと選択キャップを成膜する CVD。エレクトロマイグレーション耐性を 1 桁高める。

Endura Volta Cobalt CVDとは

Endura Volta Cobalt CVD は、Applied Materials のコバルト(Co)の CVD 装置です。薄くコンフォーマルなコバルトのライナーと選択的なコバルトのキャップで銅配線を包み、2X nm 以降の信頼性と微細化を支えます。

銅のバリア/シード(CuBS)の開発で 15 年以上ぶりの材料変更として登場しました。20Å 未満のシード強化ライナーとキャップ層を成膜でき、真空ベースでエレクトロマイグレーション(EM)を抑える業界唯一の方法です。プリクリーン・バリア・銅シードと同じプラットフォームに統合された唯一の CVD コバルトライナーでもあります。

ライナーは銅のぬれ性を高めて連続したシード層を作り、ボイドのない埋め込みを助けます。100:1 を超える選択的なキャップは、配線抵抗を上げずに銅と絶縁膜の密着を強め、EM 性能を 1 桁改善します。

主な特長

  • •20Å 未満の Co ライナー・キャップ
  • •EM 性能を 1 桁改善
  • •選択比 100:1 超
  • •CuBS と同一プラットフォーム

主な仕様

方式CVD コバルト(ライナー+選択キャップ)
膜厚20Å 未満
効果EM 性能を 1 桁改善・選択比 100:1 超

※ メーカーの公開情報に基づく参考値です。構成・オプションにより異なります。正確な仕様はメーカーへお問い合わせください。

スペック比較

複数の機種が掲載している項目を並べています。

項目Applied MaterialsProducer® XP Precision® CVDApplied MaterialsProducer® XP Precision® Pioneer® CVDApplied MaterialsCentura® DXZ CVDApplied MaterialsCentura® Ultima HDP CVD®Applied MaterialsCentura™ iSprint™ SSW ALD/CVDApplied MaterialsEndura™ CuBS Volta™ Ruthenium CVDApplied MaterialsEndura® Volta® Cobalt CVDApplied MaterialsEndura® Volta® Selective W CVDApplied MaterialsEndura® Volta® W CVDApplied MaterialsProducer® CVDApplied MaterialsProducer® Eterna® FCVD™Applied MaterialsProducer® HARP®Applied MaterialsProducer® XP Precision® Draco™ CVD東京エレクトロン(TEL)Triase+™ W(枚葉式W-CVD)東京エレクトロン(TEL)Triase+™ EX-II™ TiN東京エレクトロン(TEL)Triase+™ Ti/TiN東京エレクトロン(TEL)Episode™ 1東京エレクトロン(TEL)Episode™ 2 DMRLam ResearchVECTOR®(PECVD)Lam ResearchALTUS®(W/Mo の CVD・ALD)Lam ResearchSPEED®(HDP-CVD)Kokusai Electric(国際電気)QUIXACE®-II(ラージバッチ成膜装置)ULVAC(アルバック)CME-200E(PE-CVD)
方式CVD(Producer プラットフォーム・Twin Chamber)CVD(高密度カーボンハードマスク)—高密度プラズマ CVDALD/CVD(シーム抑制タングステン)CVD ルテニウム(CuBS 統合材料ソリューション)CVD コバルト(ライナー+選択キャップ)表面処理+選択タングステン CVDCVD(W-カーボン膜+バルク W)—流動性 CVD(Flowable CVD)熱 CVD(オゾン/TEOS・非プラズマ)CVD(ハードマスク)枚葉式 CVD(SFD 核付け層+通常膜、ランプ加熱)枚葉 ASFD(Advanced Sequential Flow Deposition)枚葉 CVD(SFD TiN・HP Ti もラインアップ)枚葉成膜プラットフォーム2 枚同時搬送・同時成膜(DMR:Duo Matched Reactor)PECVD(クアッドステーションモジュール)CVD/ALD(クアッドステーションモジュール)高密度プラズマ CVD(成膜+その場エッチング)ラージバッチ縦型炉PE-CVD(27.12 MHz 高密度プラズマ、トレイ搬送)
主要用途3D NAND の交互積層・DRAM の高アスペクト比加工用膜——STI・PMD・ILD・IMD・パッシベーションロジック・メモリのコンタクト埋め込み———ロジックのコンタクト・MOL・メタルゲート埋め込み——STI・PMD の埋め込みDRAM のストレージキャパシタ形成コンタクトプラグ・ビアフィルコンタクトバリア・キャパシタ電極・ワードラインバリア・メタルゲートコンタクト工程先端ロジックのコンタクト(プリクリーン・CVD Ti)キャパシタ電極・ワードライン TiN・バリアメタル層間絶縁膜・ハードマスク・ウェーハ応力管理膜—STI・PMD・ILD・IMD・パッシベーション—パワーデバイス・LED・LD・MEMS
対応ウェハ径300 mm—150/200 mm(SiC ウェーハにも対応)200/300 mm—————150/200/300 mm(SiC ウェーハにも対応)———300 mm———————300 mm—
特徴—先端のエッチング化学に強く側壁の均一性が高い——開口部の成長を抑える処理で底から W を成長——————ひずみ誘起膜で駆動電流・保持時間を改善———————多温度の逐次成膜・熱/プラズマ Mo ALD・ACE 統合クリーン—最大 1.25 倍のロット処理(同社比)・深溝への均一成膜—
膜種——TEOS・シラン系酸化膜・窒化膜・Low-k など——————TEOS・シラン系酸化膜・窒化膜など————TiN(Plus HT・TiON もラインアップ)Ti・TiN———タングステン・モリブデン———
対象膜3D NAND 積層膜・Saphira APF などのハードマスク————————————W(タングステン)————ハードマスク・反射防止膜・パッシベーション・3D NAND 積層膜———SiO₂・SiNx・SiON・a-Si・TEOS-SiO₂
効果——————EM 性能を 1 桁改善・選択比 100:1 超ライナー/核生成層を省きコンタクト抵抗を低減ライナー抵抗率を TiN 比 70% 以上低減———選択比を従来の DRAM キャパシタ用比 30% 以上向上——————————
構成—————————Twin Chamber(同時に最大 6 枚)——————最大 8 プロセスモジュール(OPTCURE・ORTAS)1〜4 チャンバー—————
対象世代—————3nm 以降————20nm 以下————————————
シリーズ構成—————————————Triase+ EX-II TiN/Ti/TiN/W/SPAi————VECTOR/TEOS/AHM/MD/Strata/DT/TEOS 3D————
1機種だけが掲載している項目(9件)
組み合わせ—Sculpta・Sym3 Y Magnum と共同最適化—————————————————————
スループット——PE TEOS・プラズマシランで最大 80 wph————————————————————
ライナー—————RuCo 2 元系・20Å 未満—————————————————
膜厚——————20Å 未満————————————————
対象———————MOL(ミドルオブライン)コンタクト———————————————
埋め込み性能——————————アスペクト比 30:1 まで————————————
ラインアップ————————————————————SPEED NExT・SPEED Max——
処理—————————————————————CVD 膜・酸化膜形成、酸化・拡散・アニール—
対応基板——————————————————————200 mm 角(CME-400E は 300×400 mm、CME-500E は 500 mm 角)

※ スペックは各メーカーの公開情報に基づく参考値です。メーカーが公表していない項目は「—」としています。正確な仕様はメーカーへお問い合わせください。

主な用途

  • •2X nm 以降の銅配線

掲載カテゴリ

Endura Volta Cobalt CVDは次の装置カテゴリで他社製品と並べて掲載しています。

メーカー

Applied Materials

世界最大の半導体製造装置サプライヤー。成膜、除去、改質、分析の包括的な製品ポートフォリオで、ウェーハ製造の全工程をサポート。

Applied Materials の企業情報 →メーカー公式の製品ページ ↗

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出典・確認した公開情報
最終確認日:2026-10-07
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