Prexa MSとは
Prexa MS は、東京エレクトロン(TEL)の 300mm 対応全自動ウェーハプローバです。Prexa の先進機能に加え、メモリのウェーハテストに必要な機能を搭載しています。
先端 DRAM を中心に、メモリのテストピン数や発熱量は増え続けています。Prexa MS はオプションで最大 1,000kg の超高荷重に対応し、高荷重の制御で正確なコンタクトを行います。
高い発熱に対応する吸熱制御も備え、今後のメモリでのフルウェーハテスト(一括コンタクト)を実現します。XY のプロービング精度は ±0.8µm です。
主な特長
- •最大 1,000kg の高荷重
- •高発熱への吸熱制御
- •XY 精度 ±0.8µm
主な仕様
| 対応ウェハ径 | 300 mm(200 mm はオプション) |
|---|---|
| XY 精度 | ±0.8µm |
| プロービング荷重 | 600 kg(オプション 1,000 kg) |
※ メーカーの公開情報に基づく参考値です。構成・オプションにより異なります。正確な仕様はメーカーへお問い合わせください。
スペック比較
複数の機種が掲載している項目を並べています。
| 項目 | 東京エレクトロン(TEL)Precio™ XL(ウェーハプローバ) | 東京エレクトロン(TEL)Prexa™ | 東京エレクトロン(TEL)Prexa™ MS | 東京エレクトロン(TEL)Cellcia™ | 東京エレクトロン(TEL)WDF™ 12DP+ | 東京エレクトロン(TEL)Precio octo™ | 東京精密(Accretech)UF3000EX-e(ウェーハプローバ) | アドバンテストHA1200(ダイレベルプローバ) |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 対応ウェハ径 | 200/300 mm | 300 mm(200 mm はオプション) | 300 mm(200 mm はオプション) | 300 mm | — | 150/200 mm | 200 ~ 300 mm(特殊ウェーハ含む) | — |
| XY 精度 | — | ±1.8µm(200mm オプション時 ±1.5µm) | ±0.8µm | — | ±1.8µm | ±2.0µm | — | — |
| 方式 | 全自動ウェーハプローバ(リニアモーター) | — | — | — | — | — | 全自動ウェーハプローバ | 個片ダイへの高精度自動プロービング |
| 主な機能 | TELPADS-I(高速針痕検査)・Auto Leveling・CoSMOz | — | — | — | — | — | OTS(光学式ターゲットスコープ)・15 インチタッチパネル | — |
| プロービング荷重 | — | 300 kg(オプション 450 kg) | 600 kg(オプション 1,000 kg) | — | — | — | — | — |
| 主要用途 | — | — | — | メモリ・ウェーハレベルバーンイン | — | — | ウェーハテスト(プローブテスト) | — |
| 対象 | — | — | — | — | 200/300mm ウェーハ・300mm ダイシングフレーム | — | — | チップレットを使うハイエンド SoC |
1機種だけが掲載している項目(5件)
| 精度 | XY ±1.8 µm・Z ±5.0 µm | — | — | — | — | — | — | — |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| セル数 | — | — | — | 12 または 25 | — | — | — | — |
| 機能 | — | — | — | — | N-Shot アライメント(ダイシング前後) | — | — | — |
| オプション | — | — | — | — | — | 超高速針痕自動検査 TELPADS-I | — | — |
| 温度制御 | — | — | — | — | — | — | — | テスタ連動の ATC(Active Thermal Control) |
※ スペックは各メーカーの公開情報に基づく参考値です。メーカーが公表していない項目は「—」としています。正確な仕様はメーカーへお問い合わせください。
主な用途
- •DRAM などメモリのウェーハテスト
- •フルウェーハ一括コンタクト
掲載カテゴリ
Prexa MSは次の装置カテゴリで他社製品と並べて掲載しています。
メーカー
東京エレクトロン(TEL)
世界第3位の半導体製造装置メーカー。塗布現像、成膜、エッチング装置で高いシェアを誇り、先端プロセスに不可欠な技術を提供。
ウェハプローバーのほかの製品
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関連用語
出典・確認した公開情報
最終確認日:2026-10-07