Synapse™ V/Synapse™ Z Plus
TSV 工程のウェーハ仮接合(Synapse V)と剥離・洗浄(Synapse Z Plus)を行う TEL のボンダー/デボンダー。
Synapse V/Synapse Z Plusとは
Synapse V と Synapse Z Plus は、東京エレクトロン(TEL)の 300mm ウェーハ向けのボンディング/デボンディング装置です。TSV を使った 3 次元実装の工程で、ウェーハの仮接合と剥離を効率よく行います。
Synapse V は、2 枚のウェーハを仮接合するための材料塗布、乾燥、接合の機能を持ち、さまざまな接着材料での一貫プロセスを 1 台で行います。独自のアライメント機構と接合モジュールで、業界最高水準の TTV(厚さのばらつき)と高い接合精度を提供します。最大 3 層の接着剤に対応します。
Synapse Z Plus は、ウェーハの剥離とデバイス・キャリアウェーハの洗浄機能を持ち、TSV 工程後の複雑な工程を 1 台で行います。厚さ 50µm 以下の非常に薄いウェーハも安定して搬送・処理できます。第 18 回半導体・オブ・ザ・イヤーを受賞しています。
主な特長
- •仮接合と剥離を専用機で一貫処理
- •接着剤厚の TTV 5% 未満
- •50µm 以下の薄ウェーハ対応
主な仕様
| 対応ウェハ径 | 300 mm |
|---|---|
| 仮接合精度 | 接着剤厚の TTV 5% 未満(Synapse V) |
| 特徴 | 50µm 以下の薄ウェーハに対応(Synapse Z Plus) |
※ メーカーの公開情報に基づく参考値です。構成・オプションにより異なります。正確な仕様はメーカーへお問い合わせください。
スペック比較
複数の機種が掲載している項目を並べています。
| 項目 | Applied MaterialsProducer™ Avila™ 2 PECVD | Applied MaterialsEndura® Ventura® PVD | Applied MaterialsProducer® Avila™ PECVD | Applied MaterialsProducer® InVia® CVD | 荏原製作所UFP600AS型 | 東京エレクトロン(TEL)Synapse™ V/Synapse™ Z Plus | KLASPTS Osprey® PECVD | レーザーテックVIANCA シリーズ | レーザーテックBGM300 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 方式 | PECVD(200℃ 未満の低温処理) | PVD(TSV 専用) | PECVD(能動冷却で最低 100℃) | CVD(TSV 絶縁ライナー) | 電解めっき(高速パドル方式) | — | PECVD(最低 110℃) | 独自光学系による深さ測定 | 独自干渉計+IR 光学系 |
| 特徴 | ウェーハ反り(ボウ)補正の強化・Si/ガラスの支持基板に対応 | 量産に使える Ti バリア成膜を TSV で初めて実現 | — | — | 薄いシード層・多様な基板に対応、フレキシブルなプラットフォーム | 50µm 以下の薄ウェーハに対応(Synapse Z Plus) | — | — | — |
| 主要用途 | TSV ビア露出・HBM・ハイブリッドボンディング用絶縁膜 | — | — | — | バンプ・ピラー・再配線・貫通ビア・ファンアウト | — | TSV ライナー・ビア露出パッシベーション・ハイブリッド接合 | ビアエッチング後の深さ・Cu リセス量・バンプ高さ | — |
| 対象 | — | アスペクト比 10:1 以上の TSV・2.5D インターポーザ | — | — | — | — | — | 高アスペクト比・小径ビア(次世代 TSV) | — |
| 膜種 | — | — | 酸化膜・窒化膜 | — | — | — | SiN・SiO・TEOS SiO・SiCN など | — | — |
| 対応基板 | — | — | — | — | パッケージ用角基板(パネル) | — | — | — | Φ300mm(TSV・BSI 貼り合わせウェーハ) |
1機種だけが掲載している項目(6件)
| 構成 | — | — | Twin Chamber の Producer GT(同時に最大 6 枚) | — | — | — | — | — | — |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 膜厚 | — | — | — | 200nm〜1µm | — | — | — | — | — |
| 対応アスペクト比 | — | — | — | 6:1〜16:1 | — | — | — | — | — |
| 対応ウェハ径 | — | — | — | — | — | 300 mm | — | — | — |
| 仮接合精度 | — | — | — | — | — | 接着剤厚の TTV 5% 未満(Synapse V) | — | — | — |
| 装置サイズ | — | — | — | — | — | — | — | — | 1,450 × 2,650 × 1,885 mm |
※ スペックは各メーカーの公開情報に基づく参考値です。メーカーが公表していない項目は「—」としています。正確な仕様はメーカーへお問い合わせください。
主な用途
- •TSV 工程の仮接合・剥離
掲載カテゴリ
Synapse V/Synapse Z Plusは次の装置カテゴリで他社製品と並べて掲載しています。
メーカー
東京エレクトロン(TEL)
世界第3位の半導体製造装置メーカー。塗布現像、成膜、エッチング装置で高いシェアを誇り、先端プロセスに不可欠な技術を提供。
TSV形成装置のほかの製品
東京エレクトロン(TEL)のほかの製品
TELINDY PLUS(拡散炉)CLEAN TRACK LITHIUS Pro Z(コータ/デベロッパ)Tactras™(ドライエッチング装置)EXPEDIUS™-i(バッチ式洗浄装置)(ウェットエッチング装置)Episode™ UL(材料別エッチャー)CELLESTA™-i(枚葉洗浄装置)(シングルウェハ洗浄装置)ZETA™+(バッチスプレー式洗浄装置)(バッチ洗浄装置)Certas LEAGA™(ガスケミカルエッチング)(ドライ洗浄装置)ANTARES™(エアロゾル洗浄装置)(ドライ洗浄装置)TELINDY PLUS™ IRad™(バッチ式ALD)(ALD装置)NT333™(セミバッチ式ALD)(ALD装置)Triase+™ W(枚葉式W-CVD)(CVD装置)LEXIA™-EX(PVD)(PVD装置)CLEAN TRACK LITHIUS Pro DICE(コータ/デベロッパ)Precio™ XL(ウェーハプローバ)(ウェハプローバー)Synapse™ Si(ウェーハボンダー)(CMOSイメージセンサー製造装置)CELLESTA™ Pro SPM(レジスト剥離装置(ウェット))CELLESTA™ SCD(ウェハ乾燥装置)NS300Z(ウェハスクラバ)EVAROS™(拡散炉)TELFORMULA™(拡散炉)ALPHA-8SE™ i(拡散炉)Triase+™ EX-II™ TiN(CVD装置)Triase+™ Ti/TiN(CVD装置)Triase+™ SPAi(RTP(急速熱処理)装置)Episode™ 1(CVD装置)Episode™ 2 DMR(CVD装置)EXIM™(PVD装置)CLEAN TRACK™ LITHIUS Pro™ AP(コータ/デベロッパ)CLEAN TRACK™ LITHIUS Pro™ V(コータ/デベロッパ)CLEAN TRACK™ LITHIUS Pro™(コータ/デベロッパ)UNITY™ Me+(SiCパワー半導体製造装置)CELLESTA™-i MD(シングルウェハ洗浄装置)CELLESTA™ MS2(ウェハスクラバ)Prexa™(ウェハプローバー)Prexa™ MS(ウェハプローバー)Prexa™ SDP(最終テスト装置)Cellcia™(ウェハプローバー)WDF™ 12DP+(ウェハプローバー)Precio octo™(ウェハプローバー)Ulucus™ L(ハイブリッドボンディング装置)Ulucus™ LX(ハイブリッドボンディング装置)Ulucus™ G(バックグラインダー)
関連用語
出典・確認した公開情報
最終確認日:2026-10-07