KLA/マスク検査装置

Teron™ 6xx シリーズ

マスクショップ向けの KLA のレチクル欠陥検査装置。EUV と光露光用のパターン付きレチクルのパターン欠陥とパーティクルを検出する。

Teron 6xx シリーズとは

Teron 6xx シリーズは、KLA のマスクショップ向けレチクル(フォトマスク)欠陥検査装置です。レチクルの欠陥は全チップに繰り返し転写されるため、1つの欠陥でも深刻な歩留まり低下につながります。そのためマスク製造の各段階で高感度の検査が欠かせません。

EUV 用と光露光用のパターン付きレチクルの重要なパターン欠陥とパーティクルを検出します。設計データと比較するダイ・トゥ・データベース方式と、ダイ同士を比較するダイ・トゥ・ダイ方式の検査モードを持ち、幅広いレチクルの膜スタックを扱えます。

曲線パターンや複雑な OPC 構造(パス・マルチゴン設計)にも対応し、先進の光学系と画像処理、ディープラーニングの AI アルゴリズムで重要欠陥を捉えます。マスク製造の厳しい清浄度要件も満たしています。シリーズには Teron 647eS2、647eS、647e、647、637 があります。

主な特長

  • •EUV・光露光用レチクルのパターン欠陥とパーティクルを検出
  • •ダイ・トゥ・データベース/ダイ・トゥ・ダイの検査モード
  • •曲線・複雑な OPC 構造に対応
  • •ディープラーニング AI による重要欠陥の検出

主な仕様

検査対象EUV・光露光用パターン付きレチクル
検出方式ダイ・トゥ・データベース/ダイ・トゥ・ダイ
シリーズ構成Teron 647eS2/647eS/647e/647/637
主要用途マスクショップのレチクル品質認定・出荷検査

※ メーカーの公開情報に基づく参考値です。構成・オプションにより異なります。正確な仕様はメーカーへお問い合わせください。

主な用途

  • •マスクショップのレチクル品質認定・プロセス管理
  • •出荷前のレチクル品質チェック

掲載カテゴリ

Teron 6xx シリーズは次の装置カテゴリで他社製品と並べて掲載しています。

メーカー

KLA

半導体検査・計測装置の世界的リーダー。AI駆動の欠陥検出と先進データ分析により、歩留まり向上とプロセス開発を加速。

KLA の企業情報 →メーカー公式の製品ページ ↗

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出典・確認した公開情報
最終確認日:2026-10-06
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