SPTS Osprey PECVDとは
SPTS Osprey PECVD は、KLA(SPTS)の先端パッケージ向けの PECVD 装置です。300mm の接合基板やモールドに対応する低温の成膜プロセスを持ち、110℃ までの低い温度で量産認定済みの高品質な絶縁膜を成膜します。
SiN と SiO の積層を同じチャンバーで成膜でき、電気特性の信頼性と長期安定性に優れます。膜と積層の応力を幅広く調整でき、ウェーハ内の応力のばらつきは競合の PECVD より小さく抑えます。ガスを出す基板を温める枚葉・複数枚のデガスのオプションもあります。
ハイブリッド接合やダイ間の埋め込み向けに最適化した SiO、TEOS SiO、SiCN などの膜をそろえ、ビアラスト TSV のライナー、ビア露出のパッシベーション、応力補償などに使われます。
主な特長
- •110℃ までの低温成膜
- •SiN/SiO を同一チャンバーで積層
- •応力の調整範囲が広い
主な仕様
| 方式 | PECVD(最低 110℃) |
|---|---|
| 膜種 | SiN・SiO・TEOS SiO・SiCN など |
| 主要用途 | TSV ライナー・ビア露出パッシベーション・ハイブリッド接合 |
※ メーカーの公開情報に基づく参考値です。構成・オプションにより異なります。正確な仕様はメーカーへお問い合わせください。
スペック比較
複数の機種が掲載している項目を並べています。
| 項目 | Applied MaterialsProducer™ Avila™ 2 PECVD | Applied MaterialsEndura® Ventura® PVD | Applied MaterialsProducer® Avila™ PECVD | Applied MaterialsProducer® InVia® CVD | 荏原製作所UFP600AS型 | 東京エレクトロン(TEL)Synapse™ V/Synapse™ Z Plus | KLASPTS Osprey® PECVD | レーザーテックVIANCA シリーズ | レーザーテックBGM300 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 方式 | PECVD(200℃ 未満の低温処理) | PVD(TSV 専用) | PECVD(能動冷却で最低 100℃) | CVD(TSV 絶縁ライナー) | 電解めっき(高速パドル方式) | — | PECVD(最低 110℃) | 独自光学系による深さ測定 | 独自干渉計+IR 光学系 |
| 特徴 | ウェーハ反り(ボウ)補正の強化・Si/ガラスの支持基板に対応 | 量産に使える Ti バリア成膜を TSV で初めて実現 | — | — | 薄いシード層・多様な基板に対応、フレキシブルなプラットフォーム | 50µm 以下の薄ウェーハに対応(Synapse Z Plus) | — | — | — |
| 主要用途 | TSV ビア露出・HBM・ハイブリッドボンディング用絶縁膜 | — | — | — | バンプ・ピラー・再配線・貫通ビア・ファンアウト | — | TSV ライナー・ビア露出パッシベーション・ハイブリッド接合 | ビアエッチング後の深さ・Cu リセス量・バンプ高さ | — |
| 対象 | — | アスペクト比 10:1 以上の TSV・2.5D インターポーザ | — | — | — | — | — | 高アスペクト比・小径ビア(次世代 TSV) | — |
| 膜種 | — | — | 酸化膜・窒化膜 | — | — | — | SiN・SiO・TEOS SiO・SiCN など | — | — |
| 対応基板 | — | — | — | — | パッケージ用角基板(パネル) | — | — | — | Φ300mm(TSV・BSI 貼り合わせウェーハ) |
1機種だけが掲載している項目(6件)
| 構成 | — | — | Twin Chamber の Producer GT(同時に最大 6 枚) | — | — | — | — | — | — |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 膜厚 | — | — | — | 200nm〜1µm | — | — | — | — | — |
| 対応アスペクト比 | — | — | — | 6:1〜16:1 | — | — | — | — | — |
| 対応ウェハ径 | — | — | — | — | — | 300 mm | — | — | — |
| 仮接合精度 | — | — | — | — | — | 接着剤厚の TTV 5% 未満(Synapse V) | — | — | — |
| 装置サイズ | — | — | — | — | — | — | — | — | 1,450 × 2,650 × 1,885 mm |
※ スペックは各メーカーの公開情報に基づく参考値です。メーカーが公表していない項目は「—」としています。正確な仕様はメーカーへお問い合わせください。
主な用途
- •TSV ライナー・ビア露出
- •ハイブリッド接合用の絶縁膜
掲載カテゴリ
SPTS Osprey PECVDは次の装置カテゴリで他社製品と並べて掲載しています。
メーカー
TSV形成装置のほかの製品
KLAのほかの製品
Surfscan® SP7XP(ウェハ検査装置)Teron™ 6xx シリーズ(マスク検査装置)Puma™ 9980(欠陥検査装置)Candela® 8520(結晶欠陥検査装置)eSL10™(電子線(EB)検査装置)39xx シリーズ(光学式ウェーハ検査装置)Archer™ 750(オーバーレイ計測装置)SpectraFilm™ F10(膜厚計測装置)Therma-Probe® 680XP(イオン注入量測定装置)SpectraShape™ 12k(光学式寸法測定装置(OCD))Filmetrics® R54(シート抵抗測定装置)Tencor® P-17(段差・表面粗さ測定装置)CIRCL™(マクロ検査装置)Therma-Probe® 780(イオン注入量測定装置)ATL100™(オーバーレイ計測装置)Archer™ Power(オーバーレイ計測装置)Axion® T2000(光学式寸法測定装置(OCD))Aleris® 9350(膜厚計測装置)PWG5™(平坦度・ウェハ厚測定装置)CAPRES A301 microRSP®(シート抵抗測定装置)CAPRES CIPTech®(シート抵抗測定装置)MicroSense® PKMRAM(膜組成分析装置(XRF/FTIR))MicroSense® KerrMapper(膜組成分析装置(XRF/FTIR))29xx シリーズ(2965/2950 EP)(光学式ウェーハ検査装置)C30x シリーズ(光学式ウェーハ検査装置)Voyager® 1035(欠陥検査装置)8935(8 シリーズ)(欠陥検査装置)Micro-SR™(レビューSEM)Castor™(光学式ウェーハ検査装置)eDRX1™(レビューSEM)eDR7380™(レビューSEM)EtchTemp™ シリーズ(センサウェハ(T/C付ウェハ))HighTemp™ シリーズ(センサウェハ(T/C付ウェハ))CryoTemp™(センサウェハ(T/C付ウェハ))WetTemp™ シリーズ(センサウェハ(T/C付ウェハ))Smartwafer2™(センサウェハ(T/C付ウェハ))ScannerTemp™(センサウェハ(T/C付ウェハ))PlasmaSuite(プロセスモニター(EPD/OES))Surfscan® SC1(ウェハ基板検査装置)Candela® 8720(結晶欠陥検査装置)Candela® 8420(結晶欠陥検査装置)WaferSight™ 2+(ウェハ基板検査装置)Kronos™ 1190XR(ウェハレベルパッケージング)irArcher® 007(ハイブリッドボンディング装置)Zeta™-5xx/6xx シリーズ(段差・表面粗さ測定装置)SPTS Sigma® PVD(PVD装置)SPTS Delta™ PECVD(PECVD(プラズマCVD))SPTS Omega® Rapier™(MEMS)SPTS Mosaic™ プラズマダイシング(ダイシングソー)Primaxx® Monarch 300(MEMS)Xactix® X4(MEMS)MVD300®(MEMS)ICOS™ F260(最終テスト装置)ICOS™ T3/T7(最終テスト装置)Quali-Line® Prima® 2(薬液供給システム)QualiSurf®(薬液供給システム)
関連用語
出典・確認した公開情報
最終確認日:2026-10-07