Applied Materials/PECVD(プラズマCVD)

Producer Precision™ Selective Nitride PECVD

トレンチの底から選択的に窒化膜を積むボトムアップ成膜技術。GAA トランジスタで STI 酸化膜の後退を防ぐ。

Producer Precision Selective Nitride PECVDとは

Producer Precision Selective Nitride は、Applied Materials が開発した選択的・ボトムアップの窒化膜成膜技術です。GAA(ゲートオールアラウンド)トランジスタで課題になる、STI(素子分離)まわりの問題に対応します。

微細化が進むと、後の工程の強いエッチングで STI の酸化膜が削られて低くなり(リセス)、寄生容量が増えてデバイス性能が落ちます。この技術はトレンチの底に窒化膜を堆積させて STI の保護層とし、STI の高さを保って寄生容量を減らします。

ボトムアップで埋め込む成膜方式のため、さまざまな埋め込み(ギャップフィル)用途にも応用できます。

主な特長

  • •トレンチ底からの選択的成膜
  • •STI の後退を防ぐ保護層
  • •ギャップフィルにも応用可能

主な仕様

方式選択的・ボトムアップの窒化膜 PECVD
対象構造GAA トランジスタの STI
効果STI 高さの維持・寄生容量の低減

※ メーカーの公開情報に基づく参考値です。構成・オプションにより異なります。正確な仕様はメーカーへお問い合わせください。

スペック比較

複数の機種が掲載している項目を並べています。

項目Applied MaterialsProducer Celera PECVDApplied MaterialsProducer Precision APF PECVDApplied MaterialsProducer Precision™ Selective Nitride PECVDApplied MaterialsProducer® BLOk™ PECVDApplied MaterialsProducer™ Black Diamond™ PECVDApplied MaterialsProducer® DARC® PECVDApplied MaterialsProducer® Onyx®Lam ResearchVECTOR®(PECVD)KLASPTS Delta™ PECVDASMインターナショナルXP8 DCM™ PECVDASMインターナショナルXP8 Vertos™ULVAC(アルバック)CC-200(PE-CVD 装置)ULVAC(アルバック)CME(PE-CVD 装置)ULVAC(アルバック)uGmni-200C(PE-CVD 装置)
方式——選択的・ボトムアップの窒化膜 PECVDPECVD(Twin Chamber)PECVD(Low-k 絶縁膜)PECVD(誘電体反射防止膜)Low-k 膜の膜処理(Producer プラットフォーム)—PECVD(Delta fxP クラスター)PECVD(独立チャンバー)PECVD(流動性カーボン)———
主要用途先端ノードの歪みエンジニアリングDRAM・NAND・ロジックのパターニング—————層間絶縁膜・ハードマスクの成膜RF・パワー・フォトニクス・MEMSLow-k/超 Low-k 層間絶縁膜・パッシベーション・エッチストップロジック・メモリのギャップフィル、ダイポール・仕事関数メタルのパターニング———
特徴—剥離可能なハードマスク膜—成膜前にその場で銅酸化物を除去—————リモートプラズマクリーニング・ホットウォール反応炉ボイド・シームのない埋め込みと自己平坦化———
膜種———超 Low-k の銅バリア・エッチストップ膜緻密 Low-k(最新世代)・多孔質 Low-k(Black Diamond II:k≒2.55)——————SiO₂・SiNx・SiON・a-Si(SiH₄ 系)・TEOS SiO₂—SiO₂・SiNx・SiON・a-Si・TEOS SiO₂
プラズマ———————————27.12 MHz 高密度プラズマ27.12 MHz 高密度プラズマ27.12 MHz 高密度プラズマ
プラットフォームApplied ProducerApplied Producer————————————
対応膜種高応力シリコン窒化膜(圧縮/引張)アモルファスカーボン ハードマスク(APF)————————————
効果——STI 高さの維持・寄生容量の低減———絶縁性の改善・機械強度の向上———————
対象世代————2nm 以下14nm 以下————————
クリーニング———————————CF₄+O₂ プラズマNF₃+Ar プラズマ—
1機種だけが掲載している項目(11件)
制御項目膜応力のチューニング—————————————
対象構造——GAA トランジスタの STI———————————
組み合わせ—————APF(Advanced Patterning Film)ハードマスク————————
対象——————多孔質・超 Low-k 絶縁膜———————
構成———————マルチステーション(300 mm 機は 4 ステーション)——————
200 mm 機———————Sequel(6 ステーション)——————
関連機種———————VECTOR Strata(3D NAND向け/2014年)(派生機種)——————
初期リリース———————2000年——————
成膜温度————————80〜400℃—————
最大基板サイズ————————————200mm 角(CME-200E)・300 × 400mm(CME-400E)・500mm 角(CME-500E)—
基板サイズ—————————————最大 Φ200 mm

※ スペックは各メーカーの公開情報に基づく参考値です。メーカーが公表していない項目は「—」としています。正確な仕様はメーカーへお問い合わせください。

主な用途

  • •GAA トランジスタの STI 保護
  • •先端ロジックのギャップフィル

掲載カテゴリ

Producer Precision Selective Nitride PECVDは次の装置カテゴリで他社製品と並べて掲載しています。

メーカー

Applied Materials

世界最大の半導体製造装置サプライヤー。成膜、除去、改質、分析の包括的な製品ポートフォリオで、ウェーハ製造の全工程をサポート。

Applied Materials の企業情報 →メーカー公式の製品ページ ↗

PECVD(プラズマCVD)のほかの製品

Applied Materialsのほかの製品

Reflexion LK Prime CMP(酸化膜CMP装置)Reflexion LK CMP(金属CMP装置)Vantage Vulcan RTP(RTP(急速熱処理)装置)VIISta Trident(高電流イオン注入装置)VIISta 900XP(中電流イオン注入装置)Producer Celera PECVD(PECVD(プラズマCVD))Producer Precision APF PECVD(PECVD(プラズマCVD))Kinex™ Die-to-Wafer Hybrid Bonding System(ハイブリッドボンディング装置)Centris® Sym3® Y Etch(ドライエッチング装置)Sym3™ Z Magnum™ Etch(シリコンエッチャー)Centura® Etch(ポリシリコンエッチャー)Producer® Selectra® Etch(酸化膜エッチャー)Producer® Selectra® Mo Etch(金属エッチャー)Olympia® ALD(ALD装置)Producer® XP Precision® CVD(CVD装置)Endura® PVD(PVD装置)Centura™ Prime™ Epi(エピタキシャル成長装置)Raider® ECD(めっき装置(電解銅めっき))Centura® Tetra™ Z Photomask Etch(マスクエッチング装置)Centura® Tetra™ EUV Advanced Reticle Etch(マスクエッチング装置)Vantage® Astra™ DSA(レーザーアニール装置)VIISta® PLAD(プラズマドーピング装置)SEMVision™ H20(レビューSEM)VeritySEM® 20 CD Metrology(CD-SEM)Centura® Silvia™ Etch(TSV形成装置)VIISta® 3000XP(高エネルギーイオン注入)(CMOSイメージセンサー製造装置)VIISta® 900 3D(ホットイオン注入)(SiCパワー半導体製造装置)Mirra® Durum™ CMP(SiCパワー半導体製造装置)SmartFactory MES(生産管理システム(MES))Aera™ 6 Mask Inspection(マスク検査装置)Aeris®-G Plasma Abatement System(排ガス処理装置(アバトメント))Aeris®-S(排ガス処理装置(アバトメント))Aeris®-Si(排ガス処理装置(アバトメント))Alta® 4700DP Mask Writer(マスク描画装置(EB描画))Producer™ Avila™ 2 PECVD(TSV形成装置)Producer® XP Precision® Pioneer® CVD(CVD装置)Sigmameltec CTS Mask Coat Series(マスクコータ/デベロッパ)Sigmameltec MRC Mask Clean Series(マスク洗浄・乾燥装置)Sigmameltec SFB Mask Bake Series(マスクコータ/デベロッパ)Sigmameltec SFD Mask Develop Series(マスクコータ/デベロッパ)iSystem® Controller(装置管理システム(EES))Axcela™ PVD(PVD装置)Centris™ Spectral™ Mo ALD(ALD装置)Centris™ Spectral™ SiN ALD(ALD装置)Centura® DPN HD(RTP(急速熱処理)装置)Centura® DXZ CVD(CVD装置)Centura® Epi 200mm(エピタキシャル成長装置)Centura™ Sculpta™ Pattern-Shaping System(ドライエッチング装置)Centura® Ultima HDP CVD®(CVD装置)Centura™ Xtera™ Epi(エピタキシャル成長装置)Centura™ iSprint™ SSW ALD/CVD(CVD装置)Charger® UBM PVD(ウェハレベルパッケージング)ComPLUS™ 5P Optical Inspection(光学式ウェーハ検査装置)Endura® ALPS® PVD(PVD装置)Endura® Amber™ PVD(PVD装置)Endura® Avenir® RF PVD(PVD装置)Endura® Cirrus™ HT Co PVD(PVD装置)Endura® Cirrus™ HTX PVD(PVD装置)Endura® Clover® MRAM PVD(PVD装置)Endura® CuBS RF XT PVD(PVD装置)Endura™ CuBS Volta™ Ruthenium CVD(CVD装置)Endura® iLB™ PVD/ALD(PVD装置)Endura® Impulse™ PCRAM PVD(PVD装置)Endura® Ioniq™ W PVD(PVD装置)Endura™ Trillium™ ALD(ALD装置)Endura® Underbump Metallization PVD(ウェハレベルパッケージング)Endura® Ventura® PVD(TSV形成装置)Endura® Versa™ XLR2 W PVD(PVD装置)Endura® Volta® Cobalt CVD(CVD装置)Endura® Volta® Selective W CVD(CVD装置)Endura® Volta® W CVD(CVD装置)Enlight™ 3 Optical Inspection(光学式ウェーハ検査装置)HawkEye™ Optical Inspection(光学式ウェーハ検査装置)Mirra® CMP 200mm(酸化膜CMP装置)Nokota VMax™ 2 ECD(めっき装置(電解銅めっき))Opta™ CMP(金属CMP装置)PROVision™ 10 eBeam Metrology(CD-SEM)PROVision™ 4E eBeam Metrology(CD-SEM)Pika™ PVD(PVD装置)PrimeVision® 10 eBeam Inspection(電子線(EB)検査装置)Producer® Pyra® Anneal(アニール炉)Producer® Avila™ PECVD(TSV形成装置)Producer® BLOk™ PECVD(PECVD(プラズマCVD))Producer™ Black Diamond™ PECVD(PECVD(プラズマCVD))Producer® CVD(CVD装置)Producer® DARC® PECVD(PECVD(プラズマCVD))Producer® Etch(ドライエッチング装置)Producer® Eterna® FCVD™(CVD装置)Producer® HARP®(CVD装置)Producer® InVia® CVD(TSV形成装置)Producer® Onyx®(PECVD(プラズマCVD))Producer™ Viva™ Radical Treatment(ドライ洗浄装置)Producer® XP Precision® Draco™ CVD(CVD装置)Reveal™ Defect Analysis(故障解析装置)SEMVision™ G10 Defect Analysis(レビューSEM)SEMVision™ G7 Defect Analysis(レビューSEM)SEMVision™ G7AP Defect Analysis(レビューSEM)SEMVision® G9 Defect Analysis(レビューSEM)Topaz™ PVD(ウェハレベルパッケージング)VIISta® HCP(高電流イオン注入装置)Vantage® RadOx™ RTP(RTP(急速熱処理)装置)Vantage® Radiance® Plus RTP(RTP(急速熱処理)装置)Vera® Optical Inspection(光学式ウェーハ検査装置)VeritySEM® 6C CD Metrology(CD-SEM)VeritySEM® 6D CD Metrology(CD-SEM)VeritySEM™ AP CD Metrology(CD-SEM)

関連用語

出典・確認した公開情報
最終確認日:2026-10-07
半導体製造装置の製品一覧へ →