Applied Materials/ハイブリッドボンディング装置

Kinex™ Die-to-Wafer Hybrid Bonding System

Applied Materials と Besi が共同開発した統合型 D2W ハイブリッドボンダー。表面処理・接合・計測を1台にまとめている。

Kinex Die-to-Wafer Hybrid Bonding Systemとは

Kinex は、Applied Materials が BE Semiconductor Industries(Besi)と共同開発した、ダイ・トゥ・ウェーハ(D2W)ハイブリッドボンディングの統合システムです。HPC、AI アクセラレータ、HBM などの積層メモリで求められる歩留まり・精度・スケーラビリティに向けて、量産用に設計されています。

表面処理、接合、計測というハイブリッドボンディングの全工程を1台にまとめているのが最大の特長です。ウェット洗浄、プラズマ活性化、その場(in-situ)計測を統合し、リアルタイムに重ね合わせを制御します。チップレット化で課題となるキュータイム管理やダイ単位のトレーサビリティにも、スマートシーケンサーと AIx ソフトウェアで対応します。

単層・多層の接合フローに対応し、シリコン、III-V 族、ガラス基板で性能が検証されています。今後のロードマップには接合荷重の強化、その場アニール、計測統合の拡大が含まれています。

主な特長

  • •表面処理・接合・計測を1台に統合した D2W ハイブリッドボンダー
  • •ウェット洗浄・プラズマ活性化・in-situ 計測によるリアルタイム重ね合わせ制御
  • •キュータイム管理・ダイ単位トレーサビリティ・マルチビニング
  • •シリコン・III-V 族・ガラス基板で検証済み

主な仕様

接合方式D2W ハイブリッドボンディング
構成ウェット洗浄・プラズマ活性化・インシチュ計測を1台に統合
対応基板シリコン・III-V 族・ガラス
共同開発BE Semiconductor Industries(Besi)
主要用途3D IC・HBM・光電融合(CPO)・センサー統合

※ メーカーの公開情報に基づく参考値です。構成・オプションにより異なります。正確な仕様はメーカーへお問い合わせください。

スペック比較

複数の機種が掲載している項目を並べています。

ダイ・トゥ・ウェーハ(D2W):3機種の比較

項目Suss MicroTecXBC300 Gen2 D2WApplied MaterialsKinex™ Die-to-Wafer Hybrid Bonding SystemBesiDatacon 8800 CHAMEO ultra plus AC
接合方式D2W/W2W ハイブリッドボンディングD2W ハイブリッドボンディングD2W ハイブリッドボンディング
構成ボンダー・前処理を統合したプラットフォームウェット洗浄・プラズマ活性化・インシチュ計測を1台に統合単体ボンダー(高精度ビジョン・クリーン機構)
主要用途チップレット・3D 集積3D IC・HBM・光電融合(CPO)・センサー統合ピッチ 1 µm までの高密度接続・3D 集積
1機種だけが掲載している項目(3件)
対応基板—シリコン・III-V 族・ガラス—
共同開発—BE Semiconductor Industries(Besi)—
処理能力——最大 2,000 CPH(ドライサイクル)、アライメント 100 nm @3σ

※ スペックは各メーカーの公開情報に基づく参考値です。メーカーが公表していない項目は「—」としています。正確な仕様はメーカーへお問い合わせください。

主な用途

  • •3D IC・先端ロジック
  • •HBM などの積層メモリ
  • •光電融合(CPO)・センサー統合・マイクロディスプレイ

掲載カテゴリ

Kinex Die-to-Wafer Hybrid Bonding Systemは次の装置カテゴリで他社製品と並べて掲載しています。

よくある質問

D2W ハイブリッドボンディングとは?
個片化したダイを、別のウェーハ上の回路にバンプを使わず直接接合する方式です。銅電極どうしと絶縁膜どうしを同時に接合するため、マイクロバンプより狭いピッチで配線をつなげます。

メーカー

Applied Materials

世界最大の半導体製造装置サプライヤー。成膜、除去、改質、分析の包括的な製品ポートフォリオで、ウェーハ製造の全工程をサポート。

Applied Materials の企業情報 →メーカー公式の製品ページ ↗

ハイブリッドボンディング装置のほかの製品

Applied Materialsのほかの製品

Reflexion LK Prime CMP(酸化膜CMP装置)Reflexion LK CMP(金属CMP装置)Vantage Vulcan RTP(RTP(急速熱処理)装置)VIISta Trident(高電流イオン注入装置)VIISta 900XP(中電流イオン注入装置)Producer Celera PECVD(PECVD(プラズマCVD))Producer Precision APF PECVD(PECVD(プラズマCVD))Centris® Sym3® Y Etch(ドライエッチング装置)Sym3™ Z Magnum™ Etch(シリコンエッチャー)Centura® Etch(ポリシリコンエッチャー)Producer® Selectra® Etch(酸化膜エッチャー)Producer® Selectra® Mo Etch(金属エッチャー)Olympia® ALD(ALD装置)Producer® XP Precision® CVD(CVD装置)Endura® PVD(PVD装置)Centura™ Prime™ Epi(エピタキシャル成長装置)Raider® ECD(めっき装置(電解銅めっき))Centura® Tetra™ Z Photomask Etch(マスクエッチング装置)Centura® Tetra™ EUV Advanced Reticle Etch(マスクエッチング装置)Vantage® Astra™ DSA(レーザーアニール装置)VIISta® PLAD(プラズマドーピング装置)SEMVision™ H20(レビューSEM)VeritySEM® 20 CD Metrology(CD-SEM)Centura® Silvia™ Etch(TSV形成装置)VIISta® 3000XP(高エネルギーイオン注入)(CMOSイメージセンサー製造装置)VIISta® 900 3D(ホットイオン注入)(SiCパワー半導体製造装置)Mirra® Durum™ CMP(SiCパワー半導体製造装置)SmartFactory MES(生産管理システム(MES))

関連用語

出典・確認した公開情報
最終確認日:2026-10-05
半導体製造装置の製品一覧へ →